電子產(chǎn)品高溫老化的目的及老化試驗(yàn)設(shè)備名稱
老化試驗(yàn)設(shè)備名稱：
1,、蒸汽老化試驗(yàn)機(jī)    
2、臭氧老化試驗(yàn)箱   
3,、紫外線老化試驗(yàn)箱     
4,、高溫老化箱 
5、高溫老化房 
6,、氙燈老化試驗(yàn)機(jī)

 隨著電子技術(shù)的展,，電子產(chǎn)品的集成化程度越來越高，結(jié)構(gòu)越來越細(xì)微,，工序越來越多,，制造工藝越來越復(fù)雜,，這樣在制造過程中會產(chǎn)生一些潛伏缺陷。電子產(chǎn)品在生產(chǎn)制造時,因設(shè)計不合理,、原材料或工藝措施方面的原因引起產(chǎn)品的質(zhì)量問題概括有兩類：

*類是產(chǎn)品的性能參數(shù)不達(dá)標(biāo),，生產(chǎn)的產(chǎn)品不符合使用要求；第二類是潛在的缺陷,，這類缺陷不能用一般的測試手段現(xiàn),，而需要在使用過程中逐漸地被暴露，如硅片表面污染,、組織不穩(wěn)定,、焊接空洞、芯片和管殼熱阻匹配不良等等,。   
  一般這種缺陷需要在元器件工作于額定功率和正常工作溫度下運(yùn)行一千個小時左右才能全部被激活（暴露）,。顯然，對每只元器件測試一千個小時是不現(xiàn)實(shí)的,，所以需要對其施加熱應(yīng)力和偏壓,，例如進(jìn)行高溫功率應(yīng)力試驗(yàn)，來加速這類缺陷的提早暴露,。也就是給電子產(chǎn)品施加熱的,、電的、機(jī)械的或多種綜合的外部應(yīng)力,，模擬嚴(yán)酷工作環(huán)境,，消除加工應(yīng)力和殘余溶劑等物質(zhì)，使?jié)摲收咸崆俺霈F(xiàn),，盡快使產(chǎn)品通過失效浴盆特性初期階段,，進(jìn)入高可靠的穩(wěn)定期。使用高溫老化房通過高溫老化可以使元器件的缺陷,、焊接和裝配等生產(chǎn)過程中存在的隱患提前暴露,，老化后再進(jìn)行電氣參數(shù)測量，篩選剔除失效或變值的元器件,，盡可能把產(chǎn)品的早期失效消滅在正常使用之用,，從面保證出廠的產(chǎn)品能經(jīng)得起時間的考驗(yàn)。