產(chǎn)品簡介
詳細介紹
四川高低溫柜子,,電子元器件高低溫測試,試驗箱
零部件行業(yè),,我們宏展試驗設備很多,,我們?yōu)榭蛻舳ㄖ菩驮O備也很多,我們的經(jīng)驗給了如今的宏展設備,。
廣泛用于電工,、電子、航天,、航空,、儀器儀表等行業(yè)作、材料,、零部件設備等的加速濕熱試驗,,交變溫度試驗,以便對試品在給定的環(huán)境條件下的行為性能作出評價,。
除了可仿真產(chǎn)品在一般氣候環(huán)境溫濕組合條件下(高低溫操作&儲存,、溫度循環(huán)、高溫高濕,、結露試驗)..等,,去檢測產(chǎn)品本身的適應能力與特性是否改變,以及針對產(chǎn)品在(低溫低濕,、高溫低濕,、高溫高濕降到低溫低濕..等)環(huán)境下是否會發(fā)生龜裂、破損,,另外在低濕環(huán)境中的空氣靜電量是一般環(huán)境的30倍以上,,據(jù)統(tǒng)計,半導體破壞率:59%是由靜電所引起的,。
四川高低溫柜子,,電子元器件高低溫測試,試驗箱特點:
●人機對話式觸摸屏輸入系統(tǒng),,操作簡單易學,,功能強大,并可于LCD畫面上了解程式設定之曲線及監(jiān)測過程,;
●可設定程式120組,,1200段,,循環(huán)次數(shù)可達999次,每段時間zui大設定99小時59分,;
●具有RS232通信接口,,可通過PC隨意控制和監(jiān)視,還可選配RS485接口,,USB曲線記錄和數(shù)據(jù)儲存裝置,使用便捷,;
●具有9組PID參數(shù)調節(jié),以達到穩(wěn)定,、精準之控制,;
●具有程式修正、清除,、預約,、啟動、停電,、記憶,、按鍵鎖定等功能;
●具有多種報警功能,,故障發(fā)生同時,,可通過熒幕故障顯示,消除故障,;
●*送風循環(huán)設計,,溫濕度分布均勻性佳;
●具有自動防霜裝置的真空雙重玻璃,,可清晰觀察試驗箱內的試品,;
●前置式自動進水裝置,方便增加加濕水,。
四川高低溫柜子,,電子元器件高低溫測試,試驗箱
性能 | 溫度范圍 | -20→+150℃ | -40→+150℃ | -70→+150℃ | |||||||||||||||||||||||||||
濕度范圍 | 20%~98%(RH) | ||||||||||||||||||||||||||||||
溫度波動度 | ± 0.5℃ | ||||||||||||||||||||||||||||||
溫度偏差 | ± 0.2℃ | ||||||||||||||||||||||||||||||
濕度偏差 | ±3.0%RH(>75%RH),±5.0%RH(≤75%RH) | ||||||||||||||||||||||||||||||
升溫時間 | -20→+150℃ | -40→+150℃ | -70→+150℃ | ||||||||||||||||||||||||||||
≤60min | |||||||||||||||||||||||||||||||
降溫時間 | +20→-20℃ | +20→-40℃ | +20→-70℃ | ||||||||||||||||||||||||||||
≤45min | ≤60min | ≤80min | |||||||||||||||||||||||||||||
內部尺寸(mm) | W | 400 | 500 | 600 | 1000 | 400 | 500 | 600 | 1000 | 400 | 500 | 600 | 1000 | ||||||||||||||||||
H | 500 | 750 | 850 | 1000 | 500 | 750 | 850 | 1000 | 500 | 750 | 850 | 1000 | |||||||||||||||||||
D | 400 | 600 | 800 | 1000 | 400 | 600 | 800 | 1000 | 400 | 600 | 800 | 1000 | |||||||||||||||||||
外部尺寸(mm) | W | 660 | 1000 | 1100 | 1500 | 660 | 1000 | 1100 | 1500 | 900 | 1000 | 1100 | 1500 | ||||||||||||||||||
H | 1485 | 1815 | 1920 | 2080 | 1485 | 1815 | 1920 | 2080 | 1565 | 1815 | 1920 | 2080 | |||||||||||||||||||
D | 950 | 1030 | 1230 | 1430 | 950 | 1030 | 1230 | 1430 | 830 | 1030 | 1230 | 1430 | |||||||||||||||||||
調溫調濕方式 | BT(H)C平衡調溫(調濕)方式 |
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使用環(huán)境溫度 | ±5→±35℃ |
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材料 | 外殼 | 雙面鍍鋅鋼板,,表面噴塑處理 |
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內體 | 不銹鋼板SUS304 |
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絕熱 | 聚氨酯泡沫+玻璃纖維 |
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調節(jié)器 | 加熱器 | 鎳鉻合金電熱絲式加熱器 |
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加濕器 | 不銹鋼鎧裝加熱器(水盆加熱加濕) |
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風機 | 離心風機 |
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制冷機 | 全封閉壓縮機 |
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制冷劑 | R404a | R404a/R23 |
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制冷方式 | 機械壓縮單級制冷(風冷或水冷) | 機械壓縮二元復疊制冷(風冷或水冷) |
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控制器 | 顯示器 | 5.7英寸,,640X480點陣,TFT彩色LCD顯示器 |
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運行方式 | 程序方式,,定值方式 |
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設定方式 | 中文菜單,觸摸屏方式輸入 |
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程序容量 | 可編輯:20個程序每個程序zui大1000步,,可設20個循環(huán)(每個循環(huán)步zui大99次)固定: 10個程序,;程序可鏈接. |
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設定范圍 | 溫度:根據(jù)設備的溫度工作范圍調整(上限+5℃,下限-5℃) |
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濕度:0-100%RH:(如設備具有濕度功能) |
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顯示分辨率 | 溫度0.1℃:時間0.1min |
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濕度0.1%RH:(如設備具有濕度功能) |
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輸入 | 熱電偶 |
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通訊功能(選購件) | RS-485接口,,具有本地和遠程通訊功能(需配RAS-2003監(jiān)控軟件.RS-485/RS-232轉換器,, 需占用PC機的COM口和USB口各一個):zui多可同時連接16臺設備,,電纜累計長度zui大800m |
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控制方式 | 抗積分飽和PID |
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曲線記錄功能 | 具有帶電池保護的RAM,可保護設備的設定值和采樣時刻的時間;zui大記錄時間為60天 (當采樣周期為1.5min時) |
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附屬功能 | 故障報警及原因,,處理提示功能,;斷電保護功能;上下限溫度保護功能,;定時功能(自動啟動及 自動停止運行),;自疹斷功能. |
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供水 | 供水方式 | 水泵提升 |
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儲水箱 | 02.04型;手提式輔助水箱(15升)+固定式儲水箱(5升),;10型(手提式輔助水箱(15升)+ 固定式儲水箱(5升))X2 |
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水質 | 電阻率﹥500Ωm |
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電源 | AC380(1±10%)V (50±0.5)HZ 三相四線+保護地線 |
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電源zui大電流(A) | 5 | 14 | 14 | 24 | 7 | 14 | 14 | 25 | 8 | 21 | 21 | 38 |
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裝機容量(KW) | 3 | 6 | 6 | 11 | 4.5 | 7 | 7 | 12 | 5 | 10 | 10 | 18 |
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重量(KG) | 220 | 350 | 350 | 700 | 240 | 350 | 400 | 750 | 280 | 400 | 500 | 800 |
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標準配置 | 三層真空玻璃1個,,電纜孔(內徑50mm)1個,樣品架2套,,照明燈(熒光燈)1個,,電源線(長6米)1條, 試樣電源控制端子1個,,腳輪4個,,USB接口1個 |
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四川高低溫柜子,電子元器件高低溫測試,,試驗箱
交變濕熱箱,,高低溫試驗箱,恒溫恒濕試驗箱是我司重點研發(fā)設備之一,,現(xiàn)是國家高新產(chǎn)品,,目前部分常規(guī)型號有現(xiàn)貨,請大家務必早定,,方便購買,!
環(huán)境測試項目(Environmental test items)
PRE-CON, THB, HAST, PCT, TCT, TST, HTST, Solderability Test, Solder Heat Test
①PRE-CON:預處理測試( Precondition Test )
目的: 模擬IC在使用之前在一定濕度,溫度條件下存儲的耐久力,,也就是IC從生產(chǎn)到使用之間存儲的可靠性,。
②THB: 加速式溫濕度及偏壓測試(Temperature Humidity Bias Test )
目的: 評估IC產(chǎn)品在高溫,高濕,,偏壓條件下對濕氣的抵抗能力,,加速其失效進程
測試條件: 85℃,85%RH, 1.1 VCC, Static bias
失效機制:電解腐蝕
參考標準:
JESD22-A101-D
EIAJED- 4701-D122
③高加速溫濕度及偏壓測試(HAST: Highly Accelerated Stress Test )
目的: 評估IC產(chǎn)品在偏壓下高溫,,高濕,,高氣壓條件下對濕度的抵抗能力,加速其失效過程
測試條件: 130℃,, 85%RH, 1.1 VCC, Static bias,,2.3 atm
失效機制:電離腐蝕,封裝密封性
參考標準:
JESD22-A110
④PCT:高壓蒸煮試驗 Pressure Cook Test (Autoclave Test)
目的: 評估IC產(chǎn)品在高溫,高濕,,高氣壓條件下對濕度的抵抗能力,,加速其失效過程
測試條件: 130℃, 85%RH, Static bias,,15PSIG(2 atm)
失效機制:化學金屬腐蝕,,封裝密封性
售后服務承諾:
用戶的滿意是我們服務的宗旨,完善的售后服務使您解除一切后顧之憂,,我們堅信一個好的企業(yè)賣出去的不僅僅是一臺好的產(chǎn)品,,更重要的是良好的服務。
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