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日本KIKUSUI菊水TOS3200泄漏電流測(cè)試儀校準(zhǔn)方法及注意事項(xiàng)
日本KIKUSUI菊水TOS3200泄漏電流測(cè)試儀校準(zhǔn)方法及注意事項(xiàng)1.校準(zhǔn)方法安規(guī)儀漏電流測(cè)試也有交流和直流之分,，與輸出的電壓一致,。當(dāng)加交流高壓時(shí)，就測(cè)交流漏電流，是直流高壓就測(cè)直流漏電流,。安規(guī)儀漏電流的設(shè)定一般為標(biāo)稱(chēng)值：0.5mA,、1mA、2mA,、5mA,、10mA、20mA,、等等,。當(dāng)被測(cè)試件加到規(guī)定的高壓時(shí)，由于被測(cè)試件所承受耐壓的能力,，會(huì)有一些漏電流,，當(dāng)電流超過(guò)安規(guī)儀漏電流的設(shè)定時(shí)，儀器報(bào)安規(guī)綜合測(cè)試儀報(bào)警,，并切斷高壓,，表示被測(cè)試件耐壓測(cè)試不合格。有些安規(guī)儀具有實(shí)時(shí)顯示漏電流的功能,。安規(guī)綜 -
日本共立kyoritsu鉗形表Model2500全新上市概要您還在為斷開(kāi)回路或關(guān)閉系統(tǒng)而發(fā)愁嗎,，kyoritsu全新上市0-120mA過(guò)程控制行業(yè)毫安鉗形電流表五月隆重上市，精度達(dá)到驚人的0.2%,，分辨率到0.01mA,分體式的設(shè)計(jì),，使您在繁雜的線路中游刃有余，主要針對(duì)自動(dòng)化設(shè)備中微弱的輸出信號(hào)測(cè)量,，使您及時(shí)診斷和維護(hù),。傳感器的頂端自帶LED電燈照明，使您再也不用擔(dān)心昏暗場(chǎng)所的測(cè)量,，*的基準(zhǔn)百分比顯示,，一目了然，并帶有數(shù)據(jù)輸出功能,，配合顯示設(shè)備使用,。日本共立kyoritsu鉗形表Model250
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全新日本共立kyoritsu電能質(zhì)量分析儀KEW6305隆重上市
全新日本共立kyoritsu電能質(zhì)量分析儀KEW6305隆重上市概要全新kyoritsu6305電能質(zhì)量分析儀上市嘍！該產(chǎn)品采用目前zui流行購(gòu)買(mǎi)方便的SD卡儲(chǔ)存記錄數(shù)據(jù),，*的接線自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng),，確保您接線無(wú)誤，并帶有藍(lán)牙數(shù)據(jù)傳輸系統(tǒng),，強(qiáng)大的軟件分析系統(tǒng)可一鍵生成測(cè)試報(bào)表,，多量程傳感器匹配。應(yīng)用是多方面的,，包括單相和三相電能質(zhì)量分析,，電動(dòng)機(jī)啟動(dòng)分析,，配電系統(tǒng)的核查，以及電能質(zhì)量參數(shù)的測(cè)量與記錄,，它可用于預(yù)測(cè)性維護(hù),，服務(wù)合規(guī)性測(cè)試的質(zhì)量和負(fù)載的研究,，在密切監(jiān)視電源干擾方面,。電能質(zhì)量分析儀可有效地幫助 -
粗糙度|表面粗糙度所謂表面粗糙度就是加工表面上具有的較小間距和峰谷所組成的微觀幾何形狀特性。表面粗糙度一般是由所采用的加工方法和其他因素所形成的,，例如加工過(guò)程中刀具與零件表面間的摩擦,、切屑分離時(shí)表面層金屬的塑性變形以及工藝系統(tǒng)中的高頻振動(dòng)等。由于加工方法和工件材料的不同,，被加工表面留下痕跡的深淺,、疏密、形狀和紋理都有差別,。與機(jī)械零件的配合性質(zhì),、耐磨性、疲勞強(qiáng)度,、接觸剛度,、振動(dòng)和噪聲等有密切關(guān)系，對(duì)機(jī)械產(chǎn)品的使用壽命和可靠性有重要影響,。評(píng)定參數(shù):通常采用下列參數(shù)之一來(lái)定量評(píng)定輪廓算術(shù)平均偏差Ra:
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超聲波探傷ultrasonic inspection的產(chǎn)品簡(jiǎn)介
超聲波探傷ultrasonicinspection利用材料及其缺陷的聲學(xué)性能差異對(duì)超聲波傳播的影響來(lái)檢驗(yàn)材料內(nèi)部缺陷的無(wú)損檢驗(yàn)方法?，F(xiàn)在廣泛采用的是觀測(cè)聲脈沖在材料中反射情況的超聲脈沖反射法，此外還有觀測(cè)穿過(guò)材料后的入射聲波振幅變化的穿透法等,。常用的頻率在0.5～5MHz之間,。常用的檢驗(yàn)儀器為A型顯示脈沖反射式超聲波探傷儀。根據(jù)儀器示波屏上反射信號(hào)的有無(wú),、反射信號(hào)和入射信號(hào)的時(shí)間間隔,、反射信號(hào)的高度，可確定反射面的有無(wú),、其所在位置及相對(duì)大小,。儀器的基本結(jié)構(gòu)和原理見(jiàn)圖1。超聲波在介質(zhì)中傳播時(shí)有多種 -
無(wú)損探傷問(wèn)題集物理探傷就是不產(chǎn)生化學(xué)變化的情況下進(jìn)行無(wú)損探傷,。一,、什么是無(wú)損探傷？答：無(wú)損探傷是在不損壞工件或原材料工作狀態(tài)的前提下,，對(duì)被檢驗(yàn)部件的表面和內(nèi)部質(zhì)量進(jìn)行檢查的一種測(cè)試手段,。二、常用的探傷方法有哪些,？答：常用的無(wú)損探傷方法有：X光射線探傷,、超聲波探傷,、磁粉探傷、滲透探傷,、渦流探傷,、γ射線探傷、螢光探傷,、著色探傷等方法,。三、試述磁粉探傷的原理,？答：它的基本原理是：當(dāng)工件磁化時(shí),，若工件表面有缺陷存在，由于缺陷處的磁阻增大而產(chǎn)生漏磁,，形成局部磁場(chǎng),，磁粉便在此處顯示缺陷的形狀和位置，從而判斷
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晶硅太陽(yáng)能電池板晶硅太陽(yáng)能電池板CrystallinesiliconSolarpanel分類(lèi)1,、硅太陽(yáng)能電池,；2、以無(wú)機(jī)鹽如砷化鎵III-V化合物,、硫化鎘,、銅銦硒等多元化合物為材料的電池；3,、功能高分子材料制備的大陽(yáng)能電池,；4、納米晶太陽(yáng)能電池等,。分類(lèi)：晶體硅電池板：多晶硅太陽(yáng)能電池,、單晶硅太陽(yáng)能電池。非晶硅電池板：薄膜太陽(yáng)能電池,、有機(jī)太陽(yáng)能電池,。化學(xué)染料電池板：染料敏化太陽(yáng)能電池,。對(duì)太陽(yáng)能電池材料一般的要求1,、半導(dǎo)體材料的禁帶不能太寬；2,、要有較高的光電轉(zhuǎn)換效率：3,、材料本身對(duì)環(huán)境不造成污染；
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單多晶硅太陽(yáng)能電池片概述：電池片一般分為單晶硅,、多晶硅,、和非晶硅。單晶硅太陽(yáng)能電池是當(dāng)前開(kāi)發(fā)得zui快的一種太陽(yáng)能電池,，它的構(gòu)造和生產(chǎn)工藝已定型,，產(chǎn)品已廣泛用于空間和地面,。這種太陽(yáng)能電池以高純的單晶硅棒為原料。為了降低生產(chǎn)成本,，現(xiàn)在地面應(yīng)用的太陽(yáng)能電池等采用太陽(yáng)能級(jí)的單晶硅棒,，材料性能指標(biāo)有所放寬。有的也可使用半導(dǎo)體器件加工的頭尾料和廢次單晶硅材料,，經(jīng)過(guò)復(fù)拉制成太陽(yáng)能電池的單晶硅棒,。在現(xiàn)在的太陽(yáng)能電池產(chǎn)品中，以硅半導(dǎo)體材料為主,，其中又以單晶硅和多晶硅為代表,。由于其原材料的廣泛性，較高的轉(zhuǎn)換效率和
