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[供應(yīng)]高低溫沖擊試驗(yàn)箱-高低溫沖擊試驗(yàn)箱,,冷熱沖擊老化箱,,電路板溫度沖擊測(cè)試設(shè)備
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  • 高低溫沖擊試驗(yàn)箱-高低溫沖擊試驗(yàn)箱,冷熱沖擊老化箱,,電路板溫度沖擊測(cè)試設(shè)備
貨物所在地:
重慶重慶市
產(chǎn)地:
廣東
更新時(shí)間:
2023-01-15 21:00:08
有效期:
2023年1月15日 -- 2023年7月15日
已獲點(diǎn)擊:
283
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高低溫沖擊試驗(yàn)箱,,冷熱沖擊老化箱,電路板溫度沖擊測(cè)試設(shè)備適用于電子,、電工產(chǎn)品和其他設(shè)備在周?chē)髿鉁囟燃眲∽兓瘲l件下的適應(yīng)性試驗(yàn),,也是篩選電子元器件初期故障的助手,宏展設(shè)備是國(guó)家產(chǎn)品,。

詳細(xì)介紹

高低溫沖擊試驗(yàn)箱,,冷熱沖擊老化箱,電路板溫度沖擊測(cè)試設(shè)備

冷熱沖擊試驗(yàn)箱是重慶宏展重點(diǎn)發(fā)展設(shè)備之一,,是產(chǎn)品,,近期為銷量也在做活動(dòng),選購(gòu),。

設(shè)備主要是針對(duì)于電工,、電子產(chǎn)品,以及其原器件,,及其它材料在溫度急劇變化的環(huán)境下貯存,、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn),。主要用于對(duì)產(chǎn)品按照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求,,在高溫與低溫瞬間變化條件下,對(duì)產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測(cè)試,,測(cè)試后,,通過(guò)檢測(cè),來(lái)判斷產(chǎn)品的性能,,是否仍然能夠符合預(yù)定要求,,以便供產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn),、鑒定及出廠檢驗(yàn)用,。

高低溫沖擊試驗(yàn)箱,冷熱沖擊老化箱,電路板溫度沖擊測(cè)試設(shè)備設(shè)備特點(diǎn)
規(guī)格系列齊全 –提籃式,、三廂式,、水平移動(dòng)三種沖擊模式可供用戶選擇,充分滿足不同用戶的各種要求,;
設(shè)備還可提供標(biāo)準(zhǔn)高低溫試驗(yàn)功能,,實(shí)現(xiàn)了溫度沖擊和高低溫試驗(yàn)的共同兼容;
高強(qiáng)度,、高可靠性的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)- 確保了設(shè)備的高可靠性,;
工作室材料為SUS304不銹鋼 - 抗腐蝕、冷熱疲勞功能強(qiáng),,使用壽命長(zhǎng),;
高密度聚氨酯發(fā)泡絕熱材料- 確保將熱量散失減到zui小,;
表面噴塑處理- 保證設(shè)備的持久防腐功能和外觀壽命,;
高強(qiáng)度耐溫硅橡膠密封條 – 確保了設(shè)備大門(mén)的高密封性;
多種可選功能(測(cè)試孔,、記錄儀,、測(cè)試電纜等)保證了用戶多種功能和測(cè)試的需要;
大面積電熱防霜觀察窗,、內(nèi)藏式照明 –可以提供良好的觀察效果,;
環(huán)保型制冷劑 –確保設(shè)備更加符合您的環(huán)境保護(hù)要求;
 
*可根據(jù)用戶要求定制尺寸/定制使用指標(biāo)/定制各種選配功能
 
高低溫沖擊試驗(yàn)箱,,冷熱沖擊老化箱,電路板溫度沖擊測(cè)試設(shè)備

型    號(hào)

 

TSL-80-A

TSU-80-W

TSS-80-W

TSL-150-A

TSU-150-W

TSS-150-W

TSL-225-W

TSU-225-W

TSS-225-W

TSL-408-W

TSU-408-W

TSS-408-W

標(biāo)稱內(nèi)容積(升)

80

150

200

300

試驗(yàn)方式

氣動(dòng)風(fēng)門(mén)切換2溫室或3溫室方式

性能

高溫室

預(yù)熱溫度范圍

+60~+200℃

升溫速率※1

+60→+200℃≤20分鐘

低溫室

預(yù)冷溫度范圍

-78-0℃

降溫速率※1

+20→-75℃≤80分鐘

試驗(yàn)室

溫度偏差

±2℃

溫度范圍

TSL:(+60→+125)℃→(-40--10)℃;

TSU:(+60~+150)℃~(-55~-10)℃;

TSS:(+60~+150)℃~(-65~-10)℃

溫度恢復(fù)時(shí)間※2

5分鐘以內(nèi)

試樣擱架承載能力

30kg

試樣重量

7.5kg

7.5kg

10kg

10kg

內(nèi)部尺寸(mm)

W

500

600

750

850

H

400

500

500

600

D

400

500

600

800

外形尺寸(mm)※4

W

1460

1560

1710

1880

H

1840

1940

1940

2040

D

1500

1600

1700

1900

※1溫度上升和溫度下降均為各恒溫試驗(yàn)箱單獨(dú)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)的性能,。

※2恢復(fù)條件:小于5分鐘,,室溫為+25℃和循環(huán)水溫為+25℃,塑封IC,。(均布)

高低溫沖擊試驗(yàn)箱,,冷熱沖擊老化箱,電路板溫度沖擊測(cè)試設(shè)備

 

 

高低溫沖擊試驗(yàn)箱執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn)    
1,、GB/T2423.1-1989低溫試驗(yàn)方法,;     
2、GB/T2423.2-1989高溫試驗(yàn)方法,;     
3,、GB/T2423.22-1989溫度變化試驗(yàn);     
4,、GJB150.5-86溫度沖擊試驗(yàn),;     
5、GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn);     
6,、GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗(yàn),。     
7、SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——一箱式      
8,、SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——二箱式      
9,、滿足標(biāo)準(zhǔn)IEC68-2-14_試驗(yàn)方法N_溫度變化      
10、GB/T 2424.13-2002試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則      
11,、GB/T 2423.22-2002溫度變化      
12,、QC/T17-92汽車(chē)零部件耐候性試驗(yàn)一般規(guī)則    

高低溫沖擊試驗(yàn)箱,冷熱沖擊老化箱,,電路板溫度沖擊測(cè)試設(shè)備

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