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產品簡介
詳細介紹
電子元器件高低溫沖擊測試老化試驗箱
電子元器件行業(yè)里有宏展設備的太多了,，我們的高低溫沖擊老化設備是產品，得到了電子元器件行業(yè)很多客戶的認可,，我們的服務也是快捷可靠的,。
高低溫沖擊試驗箱是重慶宏展重點發(fā)展設備之一，是產品,，近期為銷量也在做活動,，選購。
設備主要是針對于電工,、電子產品,，以及其原器件，及其它材料在溫度急劇變化的環(huán)境下貯存,、運輸,、使用時的適應性試驗。主要用于對產品按照國家標準要求或用戶自定要求,，在高溫與低溫瞬間變化條件下,，對產品的物理以及其他相關特性進行環(huán)境模擬測試，測試后,，通過檢測,，來判斷產品的性能，是否仍然能夠符合預定要求,，以便供產品設計,、改進,、鑒定及出廠檢驗用。
電子元器件高低溫沖擊測試老化試驗箱設備特點
規(guī)格系列齊全 –提籃式,、三廂式,、水平移動三種沖擊模式可供用戶選擇，充分滿足不同用戶的各種要求,；
設備還可提供標準高低溫試驗功能,，實現(xiàn)了溫度沖擊和高低溫試驗的共同兼容；
高強度,、高可靠性的結構設計- 確保了設備的高可靠性,；
工作室材料為SUS304不銹鋼 - 抗腐蝕、冷熱疲勞功能強,，使用壽命長,；
高密度聚氨酯發(fā)泡絕熱材料- 確保將熱量散失減到zui小,；
表面噴塑處理- 保證設備的持久防腐功能和外觀壽命,；
高強度耐溫硅橡膠密封條 – 確保了設備大門的高密封性；
多種可選功能（測試孔,、記錄儀,、測試電纜等）保證了用戶多種功能和測試的需要；
大面積電熱防霜觀察窗,、內藏式照明 –可以提供良好的觀察效果,；
環(huán)保型制冷劑 –確保設備更加符合您的環(huán)境保護要求；
*可根據用戶要求定制尺寸/定制使用指標/定制各種選配功能
電子元器件高低溫沖擊測試老化試驗箱
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TSL-80-A TSU-80-W TSS-80-W | TSL-150-A TSU-150-W TSS-150-W | TSL-225-W TSU-225-W TSS-225-W | TSL-408-W TSU-408-W TSS-408-W | |||||
標稱內容積（升） | 80 | 150 | 200 | 300 | ||||
試驗方式 | 氣動風門切換2溫室或3溫室方式 | |||||||
性能 | 高溫室 | 預熱溫度范圍 | ＋60～＋200℃ | |||||
升溫速率※1 | ＋60→＋200℃≤20分鐘 | |||||||
低溫室 | 預冷溫度范圍 | －78－0℃ | ||||||
降溫速率※1 | ＋20→－75℃≤80分鐘 | |||||||
試驗室 | 溫度偏差 | ±2℃ | ||||||
溫度范圍 | TSL:（+60→+125）℃→（-40－-10）℃; TSU:（+60～+150）℃～（-55～-10）℃; TSS:（+60～+150）℃～（-65～-10）℃ | |||||||
溫度恢復時間※2 | 5分鐘以內 | |||||||
試樣擱架承載能力 | 30kg | |||||||
試樣重量 | 7.5kg | 7.5kg | 10kg | 10kg | ||||
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電子元器件高低溫沖擊測試老化試驗箱
內部尺寸（mm） | W | 500 | 600 | 750 | 850 | ||
H | 400 | 500 | 500 | 600 | |||
D | 400 | 500 | 600 | 800 | |||
外形尺寸（mm）※4 | W | 1460 | 1560 | 1710 | 1880 | ||
H | 1840 | 1940 | 1940 | 2040 | |||
D | 1500 | 1600 | 1700 | 1900 | |||
※1溫度上升和溫度下降均為各恒溫試驗箱單獨運轉時的性能,。 | |||||||
※2恢復條件：小于5分鐘,，室溫為＋25℃和循環(huán)水溫為＋25℃，塑封IC,。（均布） | |||||||
電子元器件高低溫沖擊測試老化試驗箱