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高低溫試驗箱測試流程分享
閱讀：411 發(fā)布時間：2022-9-27
高低溫試驗箱廣泛應用于電子,、機械,、航天、航空,、汽電動車,、化工、醫(yī)藥等行業(yè),，用于檢驗產(chǎn)品在高低溫環(huán)境下發(fā)生的化學變化和物理變化,，可以在短時間內(nèi)檢驗產(chǎn)品的各項性能。所以在日常使用過程中懂得科學的維護知識,，對于避免保障事故的發(fā)生,、增加產(chǎn)品使用壽命有著十分重要的作用。
1,、在樣品斷電的狀態(tài)下,，先將溫度下降到-50°C，保持4個小時,；請勿在樣品通電的狀態(tài)下進行低溫測試,，非常重要，因為通電狀態(tài)下,，芯片本身就會產(chǎn)生+20°C以上溫度,，所以，在通電狀態(tài)下,，通常比較容易通過低溫測試,，必須先將其“凍透"，再次通電進行測試,。
2,、開機，對樣品進行性能測試,，對比性能與常溫相比是否正常,。
3,、進行老化測試，觀察是否有數(shù)據(jù)對比錯誤,。
4,、升溫到+90°C，保持4個小時,，與低溫測試相反,，升溫過程不斷電，保持芯片內(nèi)部的溫度一直處于高溫狀態(tài),，4個小時后,，執(zhí)行2、3,、4測試步驟,。
5、高溫和低溫測試分別重復10次,。
如果測試過程出現(xiàn)任何一次不能正常工作的狀態(tài),，則視為測試失敗。