—— 研究顆粒和粉末的強大工具

ParticleMetric 顆粒測試系統(tǒng),，以zui快,、zui簡便的方式實現(xiàn)顆粒的可視化分析，是微觀顆粒分析技術(shù)的一大進步,?？焖佟⒁子煤统逦鷪D像質(zhì)量的Phenom飛納掃描電鏡,，加上 Particle Metric顆粒系統(tǒng)的顆粒圖像分析功能,，為用戶提供了分析顆粒和粉末試樣的強大工具。

基 于飛納掃描電鏡的顆粒分析解決方案ParticleMetric能夠使用戶根據(jù)需要,，隨時獲取所觀測顆粒的面積,、當量直徑、表面積,、外接圓直徑,、比表面 積、周長,、寬高比,、充實度、伸長率,、灰度等級,、長軸、短軸長度（橢圓）,、凸殼體,、重心、像素點數(shù),、凸狀物等數(shù)據(jù),，zui終實現(xiàn)ParticleMetric加 速顆粒物分析速度,、提升產(chǎn)品質(zhì)量的目的,。

 飛納掃描電鏡顆粒系統(tǒng)軟件ParticleMetric的功能

1.     可進行以下顆粒分析

l  顆粒尺寸范圍：100nm ~ 0.1mm

l  顆粒探測速度：高達1000個/分鐘

l  顆粒測量屬性：大小,、形狀、數(shù)量

2.     可以測量的顆粒參數(shù)

l  面積,、當量直徑,、表面積、外接圓直徑,、比表面積,、周長、寬高比

l  充實度,、伸長率,、灰度等級、長軸長度和短軸長度（橢圓）

l  凸殼體,、重心,、像素點數(shù)、凸狀物,。

3.     可以提供的圖形顯示

l  按數(shù)量或體積的線性,、對數(shù)、雙對數(shù)點狀圖

l  任何參數(shù)的散點圖

l  單個顆粒的SEM圖像

4.     可以提供的圖形輸出

l  Word版本docx格式的報告,，TIFF格式的圖像

l  CSV文件,，離線分析的項目文件（.PAME）Pro Suite的一部分

飛納掃描電鏡顆粒系統(tǒng)ParticleMetric軟件的優(yōu)勢

1.      加載ParticleMetric軟件的飛納臺式掃描電鏡能夠輕松生成并分析圖像，方便用戶采集超細顆粒的形貌信息和顆粒的尺寸數(shù)據(jù),；

2.      全自動的飛納掃描電鏡顆粒測試系統(tǒng)ParticleMetric軟件測量可以實現(xiàn)超出光學顯微鏡,、更好景深的視覺效果，為用戶提供顆粒物的結(jié)構(gòu)設計,、研發(fā)和質(zhì)量控制方面的細節(jié)數(shù)據(jù),；

3.      ParticleMetric軟件生成的柱狀圖、散點圖可以作為報告的內(nèi)容按照格式輸出,。任何柱狀圖都可以按照被測顆粒的不同屬性,，生成數(shù)量柱狀圖和體積柱狀圖。散點圖可以按照任何一項顆粒的特性生成,，以便揭示相關和趨勢,。

4.     直接由Phenom獲取圖像，識別并確認諸如破損顆粒,、附著物和外來顆粒,，關聯(lián)顆粒物的特征，比如直徑,、充實度,、縱橫比和凹凸度

5.     便捷的操作提升了工作效率并使計劃表簡單化和可視化

6.     無限制的圖像采集,，可輕松存儲于網(wǎng)絡或優(yōu)盤，便于共享,、交流或以后參考

7.     Phenom的易用性和對環(huán)境的良好適應力,，用戶可以將試樣zui大程度視覺化

8.     附有高清圖片的統(tǒng)計學數(shù)據(jù)。

飛納掃描電鏡顆粒系統(tǒng)ParticleMetric軟件適合的應用領域

化妝品行業(yè)         

食品行業(yè)

化工行業(yè)

制藥行業(yè)

陶瓷

顆粒以及表面涂層

環(huán)境顆粒

過濾器/篩網(wǎng)公司

                                                                 配合高倍拼圖軟件,，可實現(xiàn)全樣品顆粒分析

用Nebula 1可以在SEM樣品臺上實現(xiàn)干粉均勻分散,，可以獲取單層顆粒，同時避免顆粒的團聚,，保持脆性顆粒的結(jié)構(gòu)完整,，為用戶提供*制樣方法,。

配合ParticleMetric軟件使用干粉分散器可以為用戶提供的的顆粒分析結(jié)果。

Nebula 1參數(shù)

粉末尺寸范圍：0.1~1500μm

分散真空度范圍：0~0.8Bar

壓力設置精度：0.05Bar

尺寸和重量

規(guī)格：390(長)×210(寬)×350(高)，8.5kg

隔膜泵：1450(長)×220(寬)×213(高),，4.5kg