飛納電鏡彩色成像技術(shù),，將 SEM 形貌觀察與 EDS 成分分析相結(jié)合，讓工作流程更加流暢,，簡化了許多材料（包括金屬,、陶瓷、電池,、涂層,、水泥和軟物質(zhì)材料等）的分析流程：通過彩色元素分布圖與 SEM 圖像的實時疊加，在成像同時提供高質(zhì)量的成分定性定量信息,。

實時分析獲取更深層的信息 所有的 SEM-EDS 分析本質(zhì)上都是復(fù)雜的,，對于產(chǎn)品故障分析和污染物識別等應(yīng)用，研發(fā) 需要不斷改進質(zhì)量控制（QC）和故障分析（FA）流程,，以更好地解決出現(xiàn)的問題,。 ChemiSEM 技術(shù)的實時分析在質(zhì)量控制和生產(chǎn)效率提升方面提供了優(yōu)勢。它的 EDS 集成在儀器中,，并在電鏡工作時始終在后臺收集成分?jǐn)?shù)據(jù),，逐步建立樣品更全面和詳 細(xì)的信息，幫助您更快地定位到關(guān)鍵質(zhì)量問題,。實時定量面掃：不再有

實時定量面掃：不再有分析干擾 傳統(tǒng)的元素分析中,，復(fù)雜樣品元素分布和相分布面掃并不能及時得到精確的結(jié)果。例 如,，一個峰的信號有時會被識別為兩個元素,，產(chǎn)生錯誤，干擾樣品QC 問題的判斷,。 憑借創(chuàng)新的算法和智能光譜擬合,，飛納電鏡彩色成像技術(shù)ChemiSEM可以幫助您的實驗室團隊實現(xiàn)準(zhǔn)確的 元素識別和量化—— 即使在處理多個重疊元素時也是如此,。?

ChemiSEM 定量面掃：ChemiSEM 技術(shù)自動處理原始信號，生成定量面掃結(jié)果,。數(shù)據(jù)被很好地解析,，能夠有效避免和 峰和重疊峰的影響。并且使用算法同時處理 BSE（背散射電子）和 EDS 信號,，從而可以實時顯示樣品的形態(tài)和 元素定量結(jié)果,。

無偏差相分析 傳統(tǒng)的相分析高度依賴于對樣品的假設(shè)，當(dāng)存在譜峰重疊或強度不足而遺漏了元素時,， 這可能會是一個問題,。 有了 ChemiPhase（ChemiSEM 技術(shù)中的一項新功能）后，可以避免這種情況,。復(fù)雜樣 品的分析能夠做到無偏差,，可以基于數(shù)據(jù)單元中所有光譜結(jié)果，系統(tǒng)地識別每個獨 立的相,。隨后,，數(shù)據(jù)分析可以在沒有任何元素預(yù)定義的情況下自動運行，無需豐富經(jīng)驗 即可定位次要/微量元素,，明確識別主要和次要成分,，完成更深入、更全面的分析,。

?

使用 ChemiPhase 對地質(zhì)切片的分析,，每個相的能譜成分被自動提取和計算，可以將不同礦物相有效區(qū)分,。

自動樣品漂移校正 成分分析過程中,，準(zhǔn)確和有效的定量結(jié)果需要一個正確且穩(wěn)定的樣品位置信息。 通常在圖像漂移的情況下,，研究人員需要多次重新獲取分析數(shù)據(jù),，或者等待樣品停止漂 移后再獲取數(shù)據(jù)，這兩種方式都會降低測試效率,。 通過不斷監(jiān)控樣品位置,，ChemiSEM 軟件提供自動樣品漂移校正，使高倍率操作和較長 時間的能譜采集成為可能,。幫助大家節(jié)省寶貴的時間和精力,，專注于更重要的事情：盡 快獲取最高質(zhì)量的數(shù)據(jù)。