飛納掃描電鏡結合孔徑統(tǒng)計分析測量系統(tǒng),，能夠輕松生成并分析掃描電鏡（SEM）圖像,。一體化孔徑統(tǒng)計分析測量系統(tǒng)能夠使用戶獲得孔徑的分布狀態(tài)、孔隙參數如孔徑尺寸和長寬比,。全自動化的孔徑統(tǒng)計分析測量系統(tǒng)提供超越光學顯微鏡觀察水平的結果,，帶來進一步的探索和創(chuàng)新。生成報告時,，可以把柱狀圖和生成的圖像以選定的格式輸出,。

孔徑統(tǒng)計分析測量系統(tǒng)使用戶更好地了解材料特性，可以提取出完整的孔徑詳細信息,。孔徑統(tǒng)計分析測量系統(tǒng)拉開了孔徑測量軟件的大幕,。在探究多孔結構對材料孔隙率和過濾工藝的影響時，這種分析尤其重要,。

1）從飛納電鏡中直接獲取圖像

2）測量孔徑的屬性數據,，如面積、長軸,、短軸等

3）操作快捷方便,，提高工作效率，使工作安排簡單化可預測
4）圖像采集自由化,，數據可存儲在網絡和 U 盤,，便于分享、交流和參閱
5）導出統(tǒng)計數據時,，可同時導出清晰圖片