2025 年 5 月 14 - 16 日,，中國金屬學(xué)會(huì)煉鋼分會(huì)將在山東省濟(jì)南市舉辦“2025 年（第二十六屆）全國煉鋼學(xué)術(shù)會(huì)議",。會(huì)議主題為“綠色低碳、提質(zhì)增效,、助力新質(zhì)新發(fā)展",，旨在探討煉鋼技術(shù)理論、關(guān)鍵共性技術(shù)等,，推動(dòng)鋼鐵行業(yè)低碳,、智能、高質(zhì)量轉(zhuǎn)型,。

飛納電鏡將攜鋼鐵行業(yè)解決方案,，助力鋼鐵企業(yè)通過微觀結(jié)構(gòu)分析實(shí)現(xiàn)綠色、智能發(fā)展,。歡迎鋼鐵領(lǐng)域?qū)＜?、學(xué)者、企業(yè)代表參會(huì)交流,。

會(huì)議時(shí)間：2025 年 5 月 14-16 日

會(huì)議地點(diǎn)：山東 · 濟(jì)南 禧悅東方酒店

ParticleX Steel 

由于鋼中非金屬夾雜物的危害,，生產(chǎn)高品質(zhì)潔凈鋼已成為鋼鐵行業(yè)發(fā)展的趨勢(shì)，生產(chǎn)潔凈鋼的關(guān)鍵在于對(duì)非金屬夾雜物的有效控制,，控制雜質(zhì)的關(guān)鍵就在于準(zhǔn)確,、快速和全面地檢測(cè)夾雜物的尺寸,、形貌和組成，并且對(duì)幾千個(gè)甚至上萬個(gè)夾雜物的大量數(shù)據(jù)進(jìn)行全自動(dòng)的統(tǒng)計(jì)和冶金分析,。冶金工程師和煉鋼部門只有通過及時(shí)地獲取直觀易懂的夾雜物分析數(shù)據(jù)報(bào)告,，才能對(duì)煉鋼工藝過程中的非金屬夾雜物進(jìn)行有效的控制，從而保證高品質(zhì)鋼的穩(wěn)定生產(chǎn),。

在各種夾雜物分析技術(shù)中,，目前國內(nèi)外認(rèn)可的準(zhǔn)確和可靠的方法是使用全自動(dòng)一體化的快速夾雜物分析儀對(duì)夾雜物進(jìn)行檢測(cè)分析。傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡（OM）僅能評(píng)估夾雜物形貌,，無法實(shí)現(xiàn)成分精準(zhǔn)分類與統(tǒng)計(jì),，制約工藝優(yōu)化效率；而夾雜物自動(dòng)分析系統(tǒng)以掃描電鏡和能譜儀為硬件基礎(chǔ),，可以全自動(dòng)對(duì)鋼中非金屬夾雜物進(jìn)行快速識(shí)別,、分析和分類統(tǒng)計(jì)，為客戶的研發(fā)及生產(chǎn)提供快速,、準(zhǔn)確和可靠的定量數(shù)據(jù)支持,。

ParticleX Steel 全自動(dòng)鋼鐵夾雜物分析系統(tǒng)可對(duì)大尺寸樣品進(jìn)行原位統(tǒng)計(jì)，輸出夾雜物數(shù)量,、尺寸分布,、體積分?jǐn)?shù)及三元相圖成分分布等結(jié)果。相比手動(dòng)分析,，效率提升 10 倍以上,，且支持一鍵定位異常夾雜物進(jìn)行深度分析。

Phenom 飛納臺(tái)式掃描電鏡 

失效件斷口分析

斷口分析是金屬材料失效分析的重要手段,，為斷裂機(jī)理和內(nèi)部狀態(tài)分析提供依據(jù),，不同的斷口形貌往往對(duì)應(yīng)這不同的斷裂類型和機(jī)制，如象征韌性斷裂的韌窩,，出現(xiàn)穿晶解理/沿晶斷口的脆性斷裂,，帶有白點(diǎn)、魚眼型穿晶斷口的氫脆斷裂等等,。飛納臺(tái)式掃描電鏡優(yōu)秀的二次電子和背散射電子成像可以幫助用戶快速的獲得斷口的形貌信息,，通過對(duì)這些斷裂特征的分析，能夠很好的分析鋼鐵零部件的失效機(jī)理,，反推產(chǎn)品性能,，幫助優(yōu)化生產(chǎn)工藝。

除了斷口形貌外,，由于鋼鐵材料中雜質(zhì)元素的存在,、成分偏析、夾雜物等異常點(diǎn)常常會(huì)導(dǎo)致應(yīng)力集中,，可以借助背散射電子和能譜分析對(duì)斷口處的異常點(diǎn)進(jìn)行分析,，推斷失效原因,。如下圖中為軸承鋼斷口掃描電鏡（SEM）圖，軸承鋼是一種合金含量少,、性能優(yōu)良的鋼材,，其應(yīng)用廣泛，經(jīng)過淬火加回火后,，具有高而均勻的硬度。軸承鋼的基本質(zhì)量要求是純凈,、組織均勻,，通過對(duì)其斷口處的異常點(diǎn)進(jìn)行 EDS-mapping 后發(fā)現(xiàn)，在該處存在明顯的成分不均的富集相,，這可能是該軸承鋼材料失效的重要誘因,。

飛納電鏡型號(hào)推薦

Phenom AFM-SEM 原子力掃描電鏡一體機(jī)

Phenom Pharos 臺(tái)式場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡

Phenom XL 大樣品式版

Phenom ProX 電鏡能譜一體機(jī)

SEM 制樣設(shè)備-離子研磨儀

金相分析

晶間腐蝕隱蔽性強(qiáng)，突發(fā)性破壞幾率大,，因此有嚴(yán)重的危害性,。使用離子研磨儀 SEMPREP SMART對(duì)金相樣品進(jìn)行研磨后，可以很好的進(jìn)行晶粒,、晶界的形態(tài),、成分分析。如下圖所示為 316 不銹鋼的晶界結(jié)構(gòu)（A）和晶界處的 EDS 分析結(jié)果（B）,，該結(jié)果清晰的展示了 Cr 元素在晶界處的富集,。