第十一屆先進陶瓷研討會 (CICC-11) 將于 2019 年 5 月 25 日至 29 日在云南省昆明市召開,。

CICC 先進陶瓷研討會是由中國硅酸鹽學會發(fā)起并主辦的一個系列性學術會議,。至今,，已成為亞洲具有相當影響力的大型學術會議,。國內(nèi)從事特種陶瓷研究的相關高等院校及科研院所均有代表出席歷屆 CICC,。

會議時間：2019 年 5 月 25 日 - 29 日
會議地點：云南 · 昆明 · 云安會都酒店

掃描電鏡表征陶瓷類樣品

功能摻雜陶瓷                                                            陶瓷片斷面

圖1 陶瓷掃描電鏡圖片

掃描電鏡在陶瓷樣品中的研究主要為以下幾個方面的研究：

· 顯微結構分析：晶體生長機理,、臺階,、位錯,、缺陷等的研究；
· 成分非均勻性,、殼芯結構,、包裹結構的研究；
· 靜態(tài)或動態(tài)微觀裂紋或氣孔的研究,；
· 加熱前后晶體合成,、氣化、聚合反應等研究,；
· 微區(qū)成分分析,。

對于導電性差的陶瓷，為了避免荷電效應的影響,，常規(guī)的方法包括：蒸鍍導電膜,、降低入射電子束能量、拍照采用快掃模式,、改善導電通路,、減小樣品尺寸、低真空模式等,。

在實際中使用較多一般是蒸鍍導電膜,，包括蒸鍍金屬膜 Au、Pt,、Ag,、Cr 或碳膜。

     噴金前                                                                  噴金后

圖2 陶瓷粉體

圖 2 顯示了同一樣品,、同一參數(shù)噴金前后的圖像差異,，可以看出飛納電鏡在不噴金條件下，陶瓷粉在 40000x 高倍下依然沒有明顯充電,，表現(xiàn)相當不俗,，噴金之后效果更進一步提升，邊緣更加銳利,，細節(jié)更加突出,。

降低荷電效應樣品杯

采用飛納電鏡降低荷電效應樣品杯之后，由于低真空下對樣品表面電子累積的有效緩解,，可以不用噴金直接得到非常的圖片,。

能譜分析

飛納電鏡能譜分析：點掃描

飛納電鏡能譜分析：線掃描

飛納電鏡能譜分析：面掃描

圖 3

除了基本的形貌觀察之外,，掃描電鏡的一些選配件可以實現(xiàn)諸如能譜分析、EBSD,、陰極熒光等其他角度的分析,。其中常見的當屬電鏡能譜分析 (EDS)，在圖 3 中可以看到,，通過掃描電鏡能譜分析,，即直接選點、劃線,、框面進行分析,，數(shù)分鐘后即可得到結果。

在陶瓷樣品中,，經(jīng)常需要研究摻雜相的分布,，比如均勻混合還是只分布于晶界，此時通過圖片顯然不能確定,，加上微區(qū)成分信息的數(shù)據(jù),，就可以一目了然。

想了解更多掃描電鏡在陶瓷樣品中的應用嗎,？飛納電鏡在 CICC-11 等著你,。