當(dāng)前位置:復(fù)納科學(xué)儀器(上海)有限公司>>公司動態(tài)>>SEMICON China 2019 | 飛納電鏡在半導(dǎo)體領(lǐng)域的應(yīng)用
SEMICON China 2019 | 飛納電鏡在半導(dǎo)體領(lǐng)域的應(yīng)用
SEMICON China 是中國的半導(dǎo)體旗艦展覽,每年吸引高數(shù)量和高質(zhì)量的觀眾到場參觀,,為大家提供了解產(chǎn)品、技術(shù)和解決方案的專業(yè)平臺,。
2019 年,,飛納電鏡將攜臺式掃描電鏡能譜一體機 Phenom ProX,在 SEMICON China 2019 為大家?guī)頀呙桦婄R在半導(dǎo)體領(lǐng)域的應(yīng)用,。
時間:2019 年 3 月 20 日 - 22 日
地點:上海新博覽中心
飛納電鏡展位號:N5 館 5619
飛納臺式掃描電鏡在半導(dǎo)體行業(yè)的應(yīng)用
光鏡 + 電鏡導(dǎo)航界面 —— 快速尋找 Bonding 位置
飛納電鏡彩色光學(xué)導(dǎo)航窗口 + 低倍 SEM 導(dǎo)航窗口 + 自動馬達(dá)臺,,幫助用戶一鍵找到感興趣位置,丟失視野,。
優(yōu)中心樣品杯 —— 多角度檢測 Bonding 質(zhì)量
飛納電鏡優(yōu)中心 (Eucentric) 樣品杯
飛納臺式掃描電鏡大樣品室版 Phenom XL 的優(yōu)中心樣品杯可以通過傾斜,、旋轉(zhuǎn)樣品,使用戶得到更豐富的形貌特征,輕松,、安全地從各個角度觀察樣品:
· 自動保護系統(tǒng),,用戶無需擔(dān)憂碰撞探頭
· 腔室 3D 動態(tài)顯示,實時模擬顯示樣品與探頭的位置關(guān)系
· 優(yōu)中心樣品轉(zhuǎn)動,,丟失視野
飛納臺式掃描電鏡能譜一體機 Phenom ProX
在半導(dǎo)體領(lǐng)域中,,掃描電鏡可以用來分析材料成型機理,器件失效分析,,工業(yè)工藝控制等問題,,對研究和生產(chǎn)有著至關(guān)重要的作用。
飛納電鏡的高性能,、高穩(wěn)定性,、操作簡單等特性,在半導(dǎo)體領(lǐng)域得到了廣泛的應(yīng)用,。
第五代飛納臺式掃描電鏡能譜一體機 Phenom ProX 是集成化成像分析系統(tǒng),,分辨率提升 20%,進一步增加應(yīng)用范圍,,更加適用于對電子束敏感的樣品,。