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飛納電鏡邀請您參加2018第十一屆上海粉末冶金展覽會暨會議
上海粉末冶金展(PM CHINA)創(chuàng)辦于2008年,,經(jīng)過十余年的持續(xù)培育,PM CHINA現(xiàn)已發(fā)展成為世界粉末冶金行業(yè)的專業(yè)展會之一,。PM CHINA推動技術(shù)創(chuàng)新,、促進成果轉(zhuǎn)化,是中外企業(yè)加強交流合作,、提升品牌形象,、拓展目標市場的商貿(mào)平臺。
時間:2018年3月25日-27日
地點:上海光大會展中心 西館一,、二,、三樓
展位號:西館一樓 B150
展品:飛納臺式掃描電鏡能譜一體機 Phenom ProX
第五代飛納電鏡能譜一體機 Phenom ProX 是*的集成化成像分析系統(tǒng),分辨率提升 20%,,進一步增加應(yīng)用范圍,,更加適用于對電子束敏感的樣品。借助該系統(tǒng),,既可觀察樣品的表面形貌,,又可分析其元素組分。
研究樣品時,,得到樣品的形貌信息只是解決了一半問題,。獲得樣品的元素組分信息往往也是非常必要的。借助全面集成、特殊設(shè)計的能譜探測器,,飛納電鏡能譜一體機 Phenom ProX 可以完善解決上述所有問題,。
顆粒統(tǒng)計分析測量系統(tǒng)
顆粒統(tǒng)計分析測量系統(tǒng)軟件可以輕松獲取、分析圖片,,并生成報告,。借助該軟件,用戶可以收集到大量亞微米顆粒的形貌和粒徑數(shù)據(jù),。憑借遠超光鏡的放大倍數(shù),,顆粒軟件全自動化的測量,可以把工業(yè)粉末的設(shè)計,、研發(fā)和品管提升到一個新臺階,。
借助顆粒系統(tǒng)軟件,用戶可隨時獲得數(shù)據(jù),。因此,,它加快了分析速度,并提高了產(chǎn)品質(zhì)量,。
臺式掃描電鏡在粉末冶金領(lǐng)域的應(yīng)用
1. 粉體形貌,、粒度觀察(<10000×,低壓SED)
2. 粉體粒度統(tǒng)計(使用飛納電鏡軟件-顆粒統(tǒng)計分析測量系統(tǒng))
3. 燒結(jié)件缺陷檢查(使用飛納電鏡軟件-超大視野自動全景拼圖)
4. 成品表面質(zhì)量檢查+雜質(zhì)判定(掃描電鏡+能譜)
5. 脫脂前后形貌觀察
同樣是黑色的金屬粉末,,在高倍下呈現(xiàn)出不同的微觀結(jié)構(gòu),,這些微觀結(jié)構(gòu)將影響金屬粉的燒結(jié)、力學(xué)性能等
(a)
(b)
銅錫合金粉末在高倍下展現(xiàn)出不同形貌,,有的呈樹枝狀(a),,有的呈多孔疏松結(jié)構(gòu)(b)
更多關(guān)于飛納電鏡在粉末冶金領(lǐng)域的精彩內(nèi)容盡在《2018第十一屆上海粉末冶金展覽會暨會議》。
在此,,飛納電鏡誠摯地邀請您參加此次展會,,期待您的參與!
飛納電鏡