飛納臺式掃描電鏡為光子晶體光纖發(fā)展開辟新路
飛納臺式掃描電鏡為光子晶體光纖發(fā)展開辟新路
光子晶體光纖(Photonic Crystal Fibers,PCF)又稱為微結構光纖(Micro-StructuredFibers,,MSF),這種光纖的橫截面上有較復雜的折射率分布,,通常含有不同排列形式的小孔,,如圖 1 所示。這些小孔的尺度與光波波長大致在同一量級且貫穿器件的整個長度,,光波可以被限制在低折射率的光纖芯區(qū)傳播,。
圖 1 不同結構的光子晶體光纖
光子晶體光纖(微結構光纖)按照其導光機理可以分為兩大類:折射率導光型(IG-PCF)和帶隙引導型(PCF)。
折射率引導型光子晶體光纖(微結構光纖,PCF)具有無截止單模特性,、大模場尺寸/小模場尺寸和色散可調(diào)特性等特性,。廣泛應用于色散控制(色散平坦,零色散位移可以到 800nm),,非線性光學(高非線性,,超連續(xù)譜產(chǎn)生),多芯光纖,,有源光纖器件(雙包層 PCF 有效束縛泵浦光)和光纖傳感等領域。
空隙帶隙型光子晶體光纖(微結構光纖,,PCF)具有易耦合,,無菲涅爾反射,低彎曲損耗,、低非線性和特殊波導色散等特點被廣泛應用于高功率導光,,光纖傳感和氣體光纖等方面。
在光子晶體光纖的生產(chǎn)中對光纖小孔的尺寸控制尤其重要,,其嚴重影響著該光纖的性能,。利用飛納臺式掃描電鏡和其孔徑統(tǒng)計分析測量系統(tǒng)可在生產(chǎn)流程中快速識別光纖中的孔洞,(如圖 2 和圖 3 所示)在低倍和高倍下孔洞邊緣均可以識別準確清晰,,并直接給出孔洞的面積,,長軸,短軸,,長寬比,,平均直徑等參數(shù)(如圖 4 所示),為得到高質(zhì)量的光子晶體光纖提供有力保障,。
圖 2 利用飛納電鏡孔徑統(tǒng)計分析測量系統(tǒng)自動識別光子晶體光纖的孔洞(4600 倍)
圖 3 利用飛納電鏡孔徑統(tǒng)計分析測量系統(tǒng)自動識別光子晶體光纖的孔洞(15500 倍)
圖 4 飛納電鏡孔徑統(tǒng)計分析測量系統(tǒng)給出識別的各個孔洞面積,,長短軸,長寬比和平均直徑參數(shù)
飛納臺式掃描電鏡孔徑統(tǒng)計分析測量系統(tǒng)軟件可以輕松獲取,、分析圖片,,并生成報告。借助該軟件,,用戶不僅可以獲取孔徑的統(tǒng)計分布信息,,同時可以獲得每個孔徑的屬性參數(shù),如孔徑尺寸,、長軸短軸比等,。
主要特點
1、從飛納電鏡中直接獲取圖像,;
2,、測量孔徑的屬性數(shù)據(jù),如面積、長軸,、短軸等,;
3、操作快捷方便,,提高工作效率,,使工作安排簡單化、可預測,;
4,、圖像采集自由化,數(shù)據(jù)可存儲在網(wǎng)絡和 U 盤,,便于分享,、交流和參閱;
5,、導出統(tǒng)計數(shù)據(jù)時,,可同時導出清晰圖片
光子晶體光纖的發(fā)展為光纖傳感開拓了廣闊的空間,尤其是在生物傳感和氣體傳感方面為光纖傳感技術帶來新的發(fā)展,。飛納臺式掃描電鏡為光子晶體光纖發(fā)展開辟新路,,利用這一有效工具,期待光子晶體光纖取得更快的發(fā)展,。