原位樣品桿知識(shí)：一文認(rèn)識(shí)原位透射電鏡技術(shù)

在科學(xué)研究和工業(yè)應(yīng)用中，觀察和理解材料的微觀結(jié)構(gòu)和性質(zhì)是至關(guān)重要的,。我們通過幾個(gè)方面梳理原位透射電鏡技術(shù)的概念,、發(fā)展和應(yīng)用等方面來更好的幫助大家認(rèn)識(shí)原位透射電子顯微技術(shù)。

傳統(tǒng)的透射電子顯微鏡（transmission electron microscopy,，簡稱TEM）是一種用來觀察材料內(nèi)部結(jié)構(gòu)的強(qiáng)大工具,對(duì)于材料學(xué)科的發(fā)展起到了巨大的推動(dòng)作用,。許多新型的納米材料,、材料結(jié)構(gòu)和性能之間的關(guān)聯(lián)、材料物理化學(xué)反應(yīng)機(jī)理等研究成果不斷涌現(xiàn),。然而,，因?yàn)閭鹘y(tǒng)的透射電子顯微鏡（TEM）觀測只能對(duì)材料在真空環(huán)境下進(jìn)行靜態(tài)表征，而許多材料的性能和行為在不同環(huán)境或?qū)嶋H工作條件下可能發(fā)生變化,，傳統(tǒng) TEM 無法提供與之相關(guān)的信息,。

由此，原位透射電鏡（in-situ transmission electron microscopy,，簡稱 in-situ TEM）應(yīng)運(yùn)而生,，該項(xiàng)技術(shù)允許研究人員在實(shí)時(shí)觀察和操控樣品的條件下進(jìn)行高分辨率成像和表征。并能夠?qū)崿F(xiàn)直接從原子層次觀察樣品在力,、熱,、電、磁作用下以及在化學(xué)反應(yīng)過程中研究材料的結(jié)構(gòu)和行為,，并直接觀察相變,、位錯(cuò)運(yùn)動(dòng)、晶體生長等動(dòng)態(tài)過程,。通過 in-situ TEM,，研究人員可以更深入地了解材料的性能、相互作用和響應(yīng)機(jī)制,，一度成為材料研究最為熱門的工具,。

原位透射電子顯微技術(shù)（in-situ TEM）是一種先進(jìn)的顯微鏡技術(shù)，可以在原子尺度下實(shí)時(shí)觀察材料的結(jié)構(gòu)和行為,。它結(jié)合了透射電子顯微鏡和原位實(shí)驗(yàn)技術(shù),，通過在不同環(huán)境條件下對(duì)材料進(jìn)行觀察，揭示材料在真實(shí)工作環(huán)境下的行為和變化過程,。

與傳統(tǒng)透射電子顯微鏡技術(shù)相比,，原位透射電子顯微鏡技術(shù)的主要區(qū)別在于其實(shí)時(shí)觀察能力和對(duì)材料的動(dòng)態(tài)行為的研究。傳統(tǒng)透射電子顯微鏡主要用于對(duì)固定樣品的靜態(tài)觀察,，而原位透射電子顯微鏡技術(shù)允許研究人員在材料受到外部刺激或不同環(huán)境條件下進(jìn)行實(shí)時(shí)觀察,。

此外，原位透射電子顯微技術(shù)還具有以下特點(diǎn)和優(yōu)勢：

1. 高分辨率：原位透射電子顯微技術(shù)具有很高的分辨率,，可以觀察到材料的細(xì)微結(jié)構(gòu)和原子級(jí)別的細(xì)節(jié),。

2. 實(shí)時(shí)觀察：該技術(shù)能夠提供實(shí)時(shí)的觀察能力，使研究人員可以在材料發(fā)生變化的過程中進(jìn)行觀察和記錄,。

3. 多尺度觀察：原位透射電子顯微技術(shù)可以在不同尺度上觀察材料的結(jié)構(gòu)和行為,，從宏觀到納米級(jí)別。

4. 環(huán)境控制：該技術(shù)允許在不同環(huán)境條件下進(jìn)行觀察，如高溫,、低溫,、高壓、不同氣氛等,，模擬材料在實(shí)際應(yīng)用中的工作環(huán)境,。

原位透射電子顯微技術(shù)通過結(jié)合高能電子束、實(shí)時(shí)觀察和環(huán)境控制,，為研究人員提供了一種強(qiáng)大的工具,，用于揭示材料的結(jié)構(gòu)、性質(zhì)和動(dòng)態(tài)行為,，以推動(dòng)材料科學(xué)和相關(guān)領(lǐng)域的研究和應(yīng)用發(fā)展,。