一,、能譜定量不準(zhǔn)確的原因

能譜（EDS）結(jié)合掃描電鏡使用，能進(jìn)行材料微區(qū)元素種類與含量的分析,。其工作原理是：各種元素具有自己的 X 射線特征波長,，特征波長的大小則取決于能級躍遷過程中釋放出的特征能量 E，能譜儀就是利用不同元素 X 射線光子特征能量不同這一特點(diǎn)來進(jìn)行成分分析的,。

能譜定量分析的準(zhǔn)確性與樣品的制樣過程,，樣品的導(dǎo)電性，元素的含量以及元素的原子序數(shù)有關(guān),。因此,，在定量分析的過程中既有一些原理上的誤差（數(shù)據(jù)庫及標(biāo)準(zhǔn)）,，我們無法消除，也有一些人為因素產(chǎn)生的誤差（操作方法）,，這些因素都會(huì)導(dǎo)致能譜定量不準(zhǔn)確,。

二、飛納能譜面掃

1. 根據(jù)襯度變化判斷元素的富集程度

利用能譜分析能夠根據(jù)襯度變化判斷元素在不同位置的富集程度,。

如圖 1,，我們獲得了材料的背散射圖像以及能譜面掃 Si 的分布圖，其中 Si 含量為20.38%,。在背散射圖及面掃圖中,，可以看到不同區(qū)域襯度不同，這是不同區(qū)域 Si 含量不同造成的,。我們選取了點(diǎn) 2-7,，其點(diǎn)掃結(jié)果 Si 含量分別為 19.26%、36.37%,、18.06%,、1.54%、20.17%,、35.57%,。

這種通過襯度判斷元素含量的方法在合金（通過含量進(jìn)而推斷合金中含有金相的種類，不同的金相含有的某種元素有固定的含量區(qū)間）,，地質(zhì)（通過含量判斷礦石等的種類）等行業(yè)有廣泛的應(yīng)用,。

圖1. 左圖為材料背散射圖及能譜點(diǎn)掃位置，右圖為能譜面掃 Si 含量的分布

2. 判斷微量元素的分布

利用能譜,，可以尋找極微量元素在材料中分布的具體位置,，先通過面掃進(jìn)行微量元素分布位置的判斷，然后通過點(diǎn)掃確定,。

如下圖,，左邊為背散射圖像，右邊分別對應(yīng) Al,、Cr,、Fe、Mg,、Si,、Ca、Ti,、P,，它們的含量如表 1，通過能譜面掃描分析得到各元素含量，其中 P 的含量為 0.09%,。

圖2. 材料的背散射圖及 Al,、Cr、Fe,、Mg,、Si、Ca,、Ti,、P 元素的分布

表1. 圖 2 中 Al、Cr,、Fe,、Mg、Si,、Ca、Ti,、P 元素含量

工程師對樣品進(jìn)行點(diǎn)掃確認(rèn),，位置 7 是面掃結(jié)果 P 元素富集區(qū)，其各元素分布如表 2,，這個(gè)位置的 P 含量高達(dá) 14.56%,，局部含量比整體含量高 160 倍。

圖3. 背散射圖像及樣品點(diǎn)掃位置

表2. 樣品點(diǎn)掃位置 7 各元素的含量

三. 飛納獲得高質(zhì)量面掃結(jié)果的原因

1) 燈絲亮度決定能譜信號的強(qiáng)度,，飛納電鏡采用 CeB6 燈絲,，具有高亮度，可以獲得高強(qiáng)度的能譜信號,。
2) 采用新型 SDD 窗口材料 Si₃N₄,，提高了穿透率，透過率由 30% 提高到 60%,。比傳統(tǒng)聚合物超薄窗透過率提高 35% 以上,。
3) 采用 Cube 技術(shù)提高響應(yīng)速度（計(jì)數(shù)率）并降低了噪音（分辨率提高），是上處理速度高的能譜系統(tǒng),，解決了計(jì)數(shù)率與分辨率的沖突,。

如圖 4 所示，飛納電鏡能譜一體機(jī)可以獲得更高計(jì)數(shù)率與更高分辨率的能譜結(jié)果,。

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圖4. 飛納能譜結(jié)果

飛納電鏡能譜一體機(jī) Phenom ProX 不需要液氮,、制冷速度快、信號強(qiáng)度大,、分辨率高,、體積和重量小，真空密封性高，可以使用更少的能量獲得更低的溫度,。尺寸更為緊湊,，適用于不同環(huán)境需求。

四. 小技巧-如何提高能譜的準(zhǔn)確性

· 能譜使用前要校準(zhǔn)
· 保證樣品平整
· 保證分析區(qū)域均質(zhì),、無污染
· 保證樣品導(dǎo)電性,、導(dǎo)熱性良好