由于增材制造的重要性日益提高，顆粒分析變得越來越重要,，導(dǎo)致工業(yè)制造商對產(chǎn)品的質(zhì)量要求更嚴(yán)格。除了產(chǎn)量大化外,，制造商還需要確保其工藝始終可以提供具有適當(dāng)尺寸和形態(tài)的顆粒,。

在本篇文章中,，將討論如何使用 Nebula™ 顆粒分散器實(shí)現(xiàn)顆粒均勻分散,，并且可以使用飛納電鏡的顆粒統(tǒng)計(jì)分析測量系統(tǒng)分析顆粒。

分散粉末樣品的原因

為了確保顆粒分析的準(zhǔn)確性,，不僅需要分離單個顆粒，而且還要分離附著物,。圖 1 顯示了將粉末樣品直接添加到碳導(dǎo)電膠上和使用 Nebula™ 顆粒分散器之間的區(qū)別,。

圖1：將粉末樣品直接涂覆到碳導(dǎo)電膠（左）和使用 Nebula™ 顆粒分散器（右）之間的掃描電鏡圖比較。

Nebula™ 顆粒分散器進(jìn)行樣品制備

Nebula™ 的使用步驟如下圖所示。 在開始之前,，操作者移除圓柱并取出樣品臺（通常由鋁制成）,。先在樣品臺上粘貼多孔碳導(dǎo)電膠（a）,，再將樣品臺放置在 Nebula™ 基座上（b）。蓋上圓柱,，打開真空閥（c）,，使真空倉內(nèi)的壓力迅速降低,。

操作者可以通過觀察壓力計(jì)，調(diào)節(jié)倉內(nèi)的真空度（d）,。一旦真空處于正確的水平,，關(guān)閉真空閥（e）并將樣品放在真空倉的頂部（f）。向下按壓杠桿釋放真空（g）,，使空氣流入倉內(nèi),。 一旦倉內(nèi)的氣壓與環(huán)境一致,，就可以移除真空倉,，并進(jìn)行成像（h）和分析（i）,。

分散粉末后需要做什么呢

當(dāng)樣品中的顆粒均勻分散后，就可以使用掃描電鏡（SEM）開始分析樣品,。飛納電鏡的顆粒統(tǒng)計(jì)分析測量系統(tǒng)是專門為顆粒分析設(shè)計(jì)的,。該軟件可以幫助用戶根據(jù)不同參數(shù)（如直徑,，圓度或灰度）來分析顆粒。 通過數(shù)據(jù)中的異常值,，用戶可以使用 EDX 進(jìn)行元素分析，從而獲得更好的解決方案,。