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掃描電鏡介紹
掃描電鏡的制造是依據(jù)電子與物質(zhì)的相互作用。當(dāng)一束高能的入射電子轟擊物質(zhì)表面時,,被激發(fā)的區(qū)域?qū)a(chǎn)生二次電子,、俄歇電子、特征X射線和連續(xù)譜X射線,、背散射電子,、透射電子,以及在可見,、紫外,、紅外光區(qū)域產(chǎn)生的電磁輻射。同時,,也可產(chǎn)生電子-空穴對,、晶格振動 (聲子)、電子振蕩 (等離子體),。原則上講,,利用電子和物質(zhì)的相互作用,可以獲取被測樣品本身的各種物理,、化學(xué)性質(zhì)的信息,,如形貌、組成,、晶體結(jié)構(gòu),、電子結(jié)構(gòu)和內(nèi)部電場或磁場等等。掃描電子顯微鏡正是根據(jù)上述不同信息產(chǎn)生的機(jī)理,,采用不同的信息檢測器,,使選擇檢測得以實現(xiàn),。如對二次電子、背散射電子的采集,,可得到有關(guān)物質(zhì)微觀形貌的信息,;對X射線的采集,可得到物質(zhì)化學(xué)成分的信息,。正因如此,,根據(jù)不同需求,可制造出功能配置不同的掃描電子顯微鏡,。
掃描電鏡在追求高分辨率,、高圖像質(zhì)量發(fā)展的同時,也向復(fù)合型發(fā)展,,即成為把掃描,、透射及微區(qū)成分分析、電子背散射衍射等結(jié)合為一體的復(fù)合型電鏡,,實現(xiàn)了表面形貌,、微區(qū)成分和晶體結(jié)構(gòu)等多信息同位分析。近幾年隨著計算機(jī),、信息數(shù)字化技術(shù)的發(fā)展和在掃描電鏡上的應(yīng)用,,使得掃描電鏡的各種性能發(fā)生了新的飛躍,操作更加快捷,,使用更加方便,,是科學(xué)研究及至工業(yè)生產(chǎn)等許多領(lǐng)域應(yīng)用的顯微分析儀器之一。