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蝕刻,、洗滌溶液比重、濃度在線監(jiān)測儀 MZ-EW-ON-LINE
適用于:氯化鐵,、氯化銅蝕刻槽,、碳酸鈉水溶液、鹽酸及雙氧水混合溶液,、氫氧化鈉水溶液洗滌槽等工業(yè)制程的溶液比重,、濃度控制場所。
原理:參考GB/T611,、T2423,、T22230、T5009,、ISO 6353,、758規(guī)范。應(yīng)用流體靜力學(xué)浮力
法,、流體力學(xué)Bernoulli 原理在線監(jiān)測蝕刻,、洗滌溶液的比重變化。再應(yīng)用Lagrange
內(nèi)插法轉(zhuǎn)換蝕刻,、洗滌溶液的濃度,。監(jiān)測在線溶液濃度的動態(tài)數(shù)據(jù)。
功能:
緩沖裝置TP-30 *的設(shè)計,,*符合流體,;
靜力學(xué)原理,讓測量數(shù)據(jù)更加準(zhǔn)確,。
規(guī)格:
型號: | MZ-EW-ONLINE |
比重范圍: | 0.0001~2.0000(玻璃砝碼) |
測試種類: | S.G,、C% |
比重精度: | 0.0001 |
濃度范圍: | 0.1%~100.0% |
標(biāo)準(zhǔn)接口: | RS-232 |
技術(shù)數(shù)據(jù):
1、 碳酸鈉水溶液可將膜面上未受光照的區(qū)域顯影去除,。
2,、 鹽酸及雙氧水混合溶液可將裸露出來的銅箔腐蝕去除,形成線路,。
3,、 氫氧化鈉水溶液是強電解質(zhì),可將功成身退的干膜光阻洗除。
4,、 印制電路中蝕刻速率降低與溶液比重,、氯化銨的含量(濃度)有關(guān)。
5,、 蝕刻液中的氯離子濃度過高,,將造成印制電路中金屬抗蝕鍍層被浸蝕。
6,、 蝕刻液中的氯化鈉含量過低,,將造成印制電路中銅表面發(fā)黑,蝕刻不動,。
操作說明:
1,、 此設(shè)備將主機置放在一個容易操作的平臺上,主機前方裝設(shè)取樣槽,。
2,、 待測液體經(jīng)由取樣槽內(nèi)的進出孔進出,透過取樣槽內(nèi)感應(yīng)球的浮力變化自動顯出液體的比重值,。
3,、 透過連續(xù)的動作即可完成在線蝕刻、洗滌溶液比重的測量與監(jiān)控,。并轉(zhuǎn)換讀取在線蝕刻,、洗滌溶液濃度的動態(tài)數(shù)據(jù)。
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