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產(chǎn)品簡介
QG-5型金相試樣切割機，主要用來切割圓柱體和多角形及有凸臺等不規(guī)則的一般金相試樣材料,，該機是采用雙罩殼全封閉結(jié)構(gòu)和雙快速加緊機構(gòu),?？杀ＷC在安全狀態(tài)下進行切割試樣,，該機裝置有前后拖板，進給速度可操控,。為避免在切割中因過熱而燒傷試樣材料的組織,，該機配有強冷卻系統(tǒng)，可避免試樣在切割時表面的微燒傷,，可增大切割截面,，具有操作使用維護保養(yǎng)方便等優(yōu)點，是切割不規(guī)則試樣的*設(shè)備,。
詳細介紹
同時具有非均勻折射率變化與高散射系數(shù)樣品對解析度造成的限制
影像對比與解析度會隨著光通過組織的路徑長度而降低,，主要的原因可分為激發(fā)與發(fā)射光被散射、物鏡和生物組織內(nèi)多變化的的折射率無法配合,。
技術(shù)參數(shù)：
1.zui大切割截面：φ120mm 轉(zhuǎn)速：2800r/min
2.切割片規(guī)格：φ400×3×φ32
3.電動機：Y112M-2,，4KW，380V,，50Hz
外型尺寸：760×850×1400mm 凈重：380Kg
散射可用蒙地卡羅法做模擬,，2000年Dunn與其他人的研究中將激發(fā)與發(fā)射光受到散射的影響分開并量化描述[4]，他們給出的結(jié)論是：在雙光子顯微術(shù)中,，隨著觀測深度的加深,，訊號強度的減弱比解析度的劣化要明顯許多。此份研究中提供了也提供了實驗上觀測到的點散佈函數(shù),，并與1998年Centonze與White的研究結(jié)果相符[5],。
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