詳細(xì)介紹
恒溫箱手機電源芯片半導(dǎo)體測試高低溫試驗箱
高低溫試驗箱:適用于工業(yè)產(chǎn)品高溫,、低溫的可靠性試驗,。對電子電工、汽車摩托,、航空航天,、船舶兵器、高等院校,、科研單位等相關(guān)產(chǎn)品的零部件及材料在高溫,、低溫(交變)循環(huán)變化的情況下,檢驗其各項性能指標(biāo),。
產(chǎn)品具有較寬的溫度控制范圍,,其性能指標(biāo)均達(dá)到國家標(biāo)準(zhǔn)GB10592-89高低溫試驗箱技術(shù)條件,適用于按GB2423.1,、GB2423.2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 試驗A:低溫試驗方法,,試驗B:高溫試驗方法》對產(chǎn)品進(jìn)行低溫,、高溫試驗及恒定溫?zé)嵩囼?。產(chǎn)品符合GB2423.1、GB2423.2,、GJB150.3,、GJB150.4、IEC,、MIL標(biāo)準(zhǔn),。
專業(yè)研發(fā)設(shè)計生產(chǎn)*
可靠性環(huán)境試驗設(shè)備生產(chǎn)廠商支持國內(nèi)聯(lián)保,快速送貨上門,,安裝,、調(diào)試、和現(xiàn)場培訓(xùn),,售后無憂,。聯(lián)系客服了解詳情,享受優(yōu)惠價格
恒溫箱手機電源芯片半導(dǎo)體測試高低溫試驗箱
一,、用途
適應(yīng)于儀器,、儀表、電工,、電子產(chǎn)品電子零組件,,成品,、半成品、半導(dǎo)體,、化學(xué),、材料等個中環(huán)境測試整機及零部件等作溫度快速變化或漸變條件下的適應(yīng)性試驗及應(yīng)力篩選試驗以便對試品在擬定條件下的性能、行為作出分析及評價(快速變化).符合 MIL-STAND.IEC,S 測試規(guī)范
快速溫變試驗機,,采用歐美之防爆把手,,外觀質(zhì)感高水準(zhǔn),全系列日制控制器,,進(jìn)皆式設(shè)定,,操作簡單,快速升降溫試驗箱可供作超低溫試驗,,電子零組件,,成品、半成品,、半導(dǎo)體,、化學(xué)、材料等個中環(huán)境測試設(shè)備,。
二,、試驗方法
1.GB2423.1-89 試驗 A 低溫試驗方法
2.GB2423.2-89 試驗 B 高溫試驗方法
3.IEC68-2-1 試驗 A
4.IEC68-2-1 試驗 B
5.GJB1032-90 環(huán)境應(yīng)力篩選方法
三、滿足標(biāo)準(zhǔn)
1.GB10589-89 低溫試驗箱技術(shù)條件
2.GB11158-89 高溫試驗箱技術(shù)條件
3.GB10592-89 高低溫試驗箱技術(shù)條件
4.GB2423.1 低溫試驗,、試驗A
5.GB2423.2 高溫試驗,、試驗B
6.GB2423.22 溫度變化試驗、試驗N
7.IEC68-2-1 試驗A
8.IEC68-2-2 試驗B
9.IEC68-2-14 試驗N
六,、技術(shù)參數(shù)
升降溫速率:3℃/分, 5℃/分, 8℃/分,10℃/分,15℃/分鐘線性平均或非線性平均.
非線性時可達(dá)25℃/分鐘,若需特殊規(guī)格請洽詢本公司.
控制穩(wěn)定度:&plsmn;0.5℃
分布均勻度:&plsmn;1.5℃
溫度偏差:≤&plsmn;2℃
正常升溫時間:-70℃~150℃小于60分;-40℃~150℃小于50分;-20℃~150℃小于35分.
正常降溫時間:+20~-70℃小于70分;+20~-40℃小于55分;+20~-20℃小于35分.
內(nèi)箱材質(zhì):SS 304#鏡面不銹鋼板
外箱材質(zhì):特殊防銹處理之鋼板噴塑或SS304#紋路處理之不銹鋼.
保溫層材質(zhì),;P發(fā)泡+玻璃棉.
底座材質(zhì):國標(biāo)角鐵+槽鋼.
冷凍系統(tǒng);風(fēng)冷或水冷式歐美原裝進(jìn)口半封閉或封閉壓縮機組,散熱片式自動負(fù)載容量調(diào)整蒸發(fā)器.
加熱系統(tǒng):加熱器:不銹綱鰭片散熱管型加熱管加熱空氣循環(huán)方式.
安全保護(hù)裝置:無熔絲過載探保護(hù),壓縮機過熱, 過流,超壓,加熱干燒, 箱內(nèi)超溫警報系統(tǒng).
標(biāo)準(zhǔn)配置:觀視窗(45x30cm),測試孔(¢50x1只),試料架(2組) 超溫保護(hù)器, 視窗燈.
其他推薦產(chǎn)品
更多-
¥200
小型高低溫試驗箱 -
¥200
非標(biāo)定制快速溫變試驗箱 -
¥200
復(fù)層式恒溫恒濕試驗箱