原理

    柔性微電極探針是由Salazar^[1]等人發(fā)展起來的,，用來實現(xiàn)粗糙,、傾斜、較大的基體在接觸模式下的SECM,。先在聚乙烯對苯二酸酯薄膜中燒蝕一個微通道,，然后用導(dǎo)電的碳墨填充。用聚合物膜固化碳軌道和疊片之后,，切出V型針,，從而形成探針。通過UV光切割或者刀片切割,，露出碳軌道的橫截面,，拋光產(chǎn)生一個新月形的碳微電極^[1]。

    這些柔性探針壓在基體上時可以彎曲,，這樣聚乙烯對苯二酸酯層一直通過彎曲接觸,。這個聚乙烯對苯二酸酯層的厚度定義了基體和活性電極區(qū)域的固定工作距離。當掃描粗糙表面時,，探針的彎曲可以適應(yīng)形貌特征,，因此可以不需要額外的電反饋系統(tǒng)（像AFM系統(tǒng)中）保持一個幾乎固定的工作距離，甚至可以提供那些太粗糙以至于無法AFM成像的表面的圖像^[1],。

柔性探針與ic對比

優(yōu)點：

• 只需要一個探針,，而沒有反饋調(diào)節(jié)系統(tǒng)，這也就意味著基礎(chǔ)裝備便宜,。
• 可以用來研究柔性材料,，如活細胞、有機材料,。
• 探針用作陣列的情況下,，可以更快，但只能在一定程度上,。

缺點：

• 如圖1所示,，活性區(qū)域的尺寸比10µm探針更大，分辨率更低,。在ic中,，分辨率是探針的實際尺寸。
• 由于不用反饋調(diào)節(jié),，只能保持一個幾乎固定的工作距離,。在ic中可以保持一個準確的恒定工作距離。
• 柔性探針不能測量形貌,，因此不能像ic一樣來比較去除形貌數(shù)據(jù)的特性,。
• 電極不是盤狀的，所以解析近似值不能用來描述逼近曲線中電流和距離之間的關(guān)系,。
• 由于h_p值更負（圖3）,，電極更彎,，橫向配準轉(zhuǎn)變更大，需要校正,。這就意味著可以解除的實際形貌數(shù)量是有限的,，而在ic中，沒有限制,。
• 掃描不同樣品形貌,，探針有不同的彎曲，這會改變探針與樣品的距離而降低橫向分辨率（在x軸和y軸）,。
• 探針的彎曲對氧化還原介質(zhì)的擴散產(chǎn)生屏蔽作用,，對SECM技術(shù)有抑制作用。SECM技術(shù)要求擴散只受樣品和探針的理想對稱玻璃外殼的影響,。
• 邊緣效應(yīng)極其明顯,。
• 響應(yīng)依賴于掃描方向，與AFM的接觸模式類似,。
• 當掃描一個帶凹槽的均勻表面時,，電化學響應(yīng)依賴于樣品形貌。在ic中,，電化學響應(yīng)不受或很少受形貌影響,。

參考文獻

[1] Cortes-Salazar, F.; Traeuble, M.; Li, F.; Busnel, J.-M.; Gassner, A.; Hojeij, M.; Wittstock, G.; Girault, H. H. Anal. Chem. 2009, 81, 6889.