痕量分析 TXRF 光譜儀
快速多元素痕量分析可對固體,、粉末、液體,、懸浮物,、過濾物、大氣飄塵,、薄膜樣品等進行定性,、定量分析，元素范圍13Al-92U,，檢出限到2pg,。
需要樣品量少，液體及懸浮物樣品1-50微升,，粉末樣品10微克以內(nèi),。
便攜式全反射熒光儀，設備小巧,，一體化結(jié)構(gòu)設計,，不需要任何輔助設備及氣體、液氮等,，可拿到現(xiàn)場進行分析,。
1位及25位全自動進樣器兩款設計,，分別適用于每天有少量樣品及大批量樣品的全自動分析。
第四代XFlash®SDD硅漂移探測器,，采用帕爾貼冷卻技術(shù),，不需要液氮，沒有任何消耗,。分辨率優(yōu)于160eV at MnKa 100Kcps,。
由于全反射無背景，熒光強度與元素含量直接成正比,。標準曲線工廠已校準好,，用戶不需要標樣就可以進行定量分析。
行業(yè)應用：
水,、廢水,、土壤中的污染元素；血液,、尿液,、組織中的有毒元素；食品,、醫(yī)藥,、刑偵、環(huán)保,、陶瓷,、水泥、建材,、地質(zhì)等領域,。
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