德國布魯克DektakXT臺階儀（探針式表面輪廓儀）可以提供更高的重復(fù)性和分辨率,，測量重復(fù)性可以到5?。臺階儀這項(xiàng)性能的到了過去四十年Dektak技術(shù),，更加鞏固了其行業(yè),。不論應(yīng)用于研發(fā)還是產(chǎn)品測量，通過在研究工作中的廣泛使用,，DektakXT能夠做到功能更強(qiáng)大,，操作更簡易，檢測過程和數(shù)據(jù)采集更完善,。第十代DektakXT臺階儀（探針式表面輪廓儀）的技術(shù),，使納米尺度的表面輪廓測量成為可能,，從而可以廣泛的應(yīng)用于微電子器件,，半導(dǎo)體，電池,，高亮度發(fā)光二管的研發(fā)以及材料科學(xué)領(lǐng)域,。

   臺階儀DektakXT能實(shí)現(xiàn)：

   1、 使用溫度條件：10-30℃,；

   2,、很好的性能，臺階高度重現(xiàn)性低于4埃

   3,、Single-arch設(shè)計(jì)提供掃描穩(wěn)定性

   4,、的“智能電子器件"設(shè)立了新低噪音基準(zhǔn)

   5、新硬件配置使數(shù)據(jù)采集時間縮短

   6、64-bit,，Vision64同步數(shù)據(jù)處理軟件,，使數(shù)據(jù)分析速度高了10倍

   7、頻率,，操作簡易

   8,、直觀的Vision64用戶界面，操作簡易

   9,、針尖自動校準(zhǔn)系統(tǒng)

   10,、布魯克（Bruker）以實(shí)惠的配置實(shí)現(xiàn)高的性能

   11、單傳感器設(shè)計(jì),，提供單一平面上低作用和寬掃描范圍

      建立在40多年的探針輪廓技術(shù)的知識和經(jīng)驗(yàn)薄膜測試儀,，在基于微處理器的輪廓儀，和300mm自動輪廓儀DektakXT繼承了以往的,。新的DektakXT是single-arch設(shè)計(jì)的探針輪廓儀,，內(nèi)置真彩高清光學(xué)攝像機(jī)，及安裝64-bit并行處理架構(gòu)已獲得測量及操作效率的探針輪廓儀

當(dāng)需要臺階高度,、表面粗糙度,、測量時，人們就會借助Dektak,。引進(jìn)DektakXT,，Bruker能讓您進(jìn)一步獲得表面測量

數(shù)據(jù)采集和分析速度
  直接驅(qū)動掃描平臺，Dektak XT減少了掃描間的時間,，而沒有影響分辨率和背景噪聲,。這一改進(jìn)大范圍掃描3D形貌或者對于表面應(yīng)力長程掃描（就探針輪廓儀而言，通常是耗時的）的掃描速度,。在行業(yè)的質(zhì)量和重現(xiàn)性前提下,，DektakXT可以將數(shù)據(jù)采集處理的速度。另外,，DektakXT采用Bruker64-bit數(shù)據(jù)采集分析同步操作軟件Vision64,，它可以大范圍3D形貌圖的高數(shù)據(jù)量處理速度，并且可以加快濾波器的工作速度和多模式掃描是的數(shù)據(jù)分析,。Vision64還具有行業(yè)內(nèi)的直觀用戶界面,，簡化了實(shí)驗(yàn)操作設(shè)置，自動完成多掃描模式,，讓重復(fù)和常規(guī)的實(shí)驗(yàn)操作變得更快速簡潔,。