冷鏡式露點(diǎn)儀的正確使用及操作注意事項(xiàng)
閱讀：4324 發(fā)布時(shí)間：2017-1-16
隨著科學(xué)技術(shù)的飛速發(fā)展,，各行各業(yè)對(duì)各種氣體的要求越來越高，特別是氣體中微量水分的測量就顯得更加重要,。 露點(diǎn)法是一種古老的溫度測量方法,、隨著電子技術(shù)的發(fā)展，露點(diǎn)技術(shù)趨于完善?，F(xiàn)代的光點(diǎn)露點(diǎn)儀采用熱電制冷,，并且可以自動(dòng)補(bǔ)償零點(diǎn)和連續(xù)跟蹤測量露點(diǎn)。露點(diǎn)儀建立在可靠的理論基礎(chǔ)上,，具有準(zhǔn)確度高,，測量范圍寬的特點(diǎn)，其準(zhǔn)確度僅次于重量法濕度計(jì),。因此,，它不僅是一種工作儀器，而且也是長期以來普遍采用的標(biāo)準(zhǔn)儀器,。露點(diǎn)儀廣泛用于工業(yè)過程和實(shí)驗(yàn)室的溫度測量與控制,，以及氣體行業(yè)中水分指標(biāo)測量等。在現(xiàn)代溫度測量技術(shù)中占有相當(dāng)重要的位置,。 如何正確使用露點(diǎn)儀以及在實(shí)際測量中應(yīng)注意的問題：
1. 鏡面的污染對(duì)露點(diǎn)測量的影響 在露點(diǎn)測量中，鏡面污染是一個(gè)突出的問題,，特別是工業(yè)流程氣體分析污染的影響是比較嚴(yán)重的,，但即使是在純氣體的測量中鏡面的污染亦會(huì)隨時(shí)間的增加而積累。為了消除污染的影響，zui直觀的方法是對(duì)被測氣體進(jìn)行過濾,。同時(shí)根據(jù)具體情況定期或隨時(shí)清洗鏡面,。此外，通過對(duì)鏡面的加熱,，并通氣吹除污染雜物,，在污染比較明顯的情況下也可以多次重復(fù)進(jìn)行節(jié)露和消露過程來實(shí)現(xiàn)。
2. 低霜點(diǎn)測量中的問題 露點(diǎn)儀是微量水測量中為數(shù)不多的zui有效的手段之一,。但是在測量中有些問題必須給予充分的注意,。首先是影響檢測的霜層厚度問題。在低含水量的情況下,，霜層很薄,，變化也慢，增加了檢霜的困難,，如露點(diǎn)低于-65℃,，鏡面上水分子移動(dòng)性很小，結(jié)晶速度相應(yīng)下降,，從霜層的出現(xiàn)到相對(duì)穩(wěn)定需要一定時(shí)間,。霜點(diǎn)溫度越低，困難越大,，測量誤差也迅速增加,。
研究表明，當(dāng)霜點(diǎn)溫度接近-85℃是鏡面上形成藍(lán)色絲狀結(jié)晶的薄霧,。在這個(gè)溫度附近霜層的質(zhì)量密度10-8gm-2相當(dāng)于一個(gè)分子層的厚度,，由此可見，在更低的霜點(diǎn)溫度下測量是難以進(jìn)行的,。
另一個(gè)是過程問題,，這種現(xiàn)象容易在高空探測中發(fā)生。 在低溫下,，由于冰的結(jié)晶過程緩慢,，往往在達(dá)到霜點(diǎn)溫度時(shí)霜層還未出現(xiàn)，當(dāng)溫度繼續(xù)降低,，水開始結(jié)冰,，在過飽和狀態(tài)下霜層迅速形成。但此時(shí)的飽和水氣壓不是冰而應(yīng)該是過冷水的飽和水氣壓,，如上所述,，由于過冷現(xiàn)象，霜點(diǎn)測量誤差有時(shí)高達(dá)幾度,，因此,，低霜點(diǎn)測量要特別小心,，保持足夠長的平衡時(shí)間。
除上所述還需注意下列幾個(gè)問題,。 ü 氣路系統(tǒng)一定要密封性好,，以防止外界環(huán)境水分往里滲漏 ü 如果被測氣體直接排放入大氣，應(yīng)考慮大氣中的水分向測量系統(tǒng)內(nèi)部擴(kuò)散的問題,，zui常用的辦法時(shí)在排氣口接上一段適當(dāng)長的管子,，其長度個(gè)管徑以不影響測量腔的壓力為原則。 ü 取樣管要盡量短,，盡量減少接頭的數(shù)量和避免“死空間”,，以減少本底水分的干擾。 ü 取樣管道要選用滲水性強(qiáng)的材料,，如不銹鋼,，聚四氟乙烯等。
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