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撫生試劑-以碳納米管為基礎(chǔ)的全晶片數(shù)字電路研制成功
閱讀：146 發(fā)布時(shí)間：2014-3-26以碳納米管為基礎(chǔ)的全晶片數(shù)字電路研制成功
zui近,，美國(guó)斯坦福和南加州大學(xué)工程師開(kāi)發(fā)出一種設(shè)計(jì)碳納米管線路的新方法,，能出一種以碳納米管為基礎(chǔ)的全晶片數(shù)字電路，即使在許多納米管發(fā)生扭曲偏向的情況下,，整個(gè)線路仍能工作,。
碳納米管(CNTs)超越了傳統(tǒng)的硅技術(shù)，在能效方面有望比硅基線路提高10倍,。*個(gè)初級(jí)納米管晶體管誕生于1998年,，人們期望這將開(kāi)啟一個(gè)高能效、先進(jìn)計(jì)算設(shè)備新時(shí)代,，但受制于碳納米管本身固有的缺點(diǎn),，這一愿景一直未能實(shí)現(xiàn)。
“作為未來(lái)的密集型高能效集成電路,，碳納米晶體管吸引力,。然而當(dāng)人們想把它們用在微電子領(lǐng)域時(shí)，卻遭遇到巨大的障礙,。zui主要的就是它們的位置和電屬性的變化,。”IBM托馬斯·瓦特森研究中心物理科學(xué)部主管蘇布拉迪克·高華說(shuō)。
在碳納米管能變成一種有現(xiàn)實(shí)影響力的技術(shù)之前,，至少還要克服兩大障礙：*,，研究已證明，要造出具有“”直線型的納米管是不可能的,，而扭曲錯(cuò)位的納米管會(huì)導(dǎo)致線路出錯(cuò),，以致功能紊亂;第二，迄今還沒(méi)有一種技術(shù)能出*一致的半導(dǎo)體納米管，如果線路中出現(xiàn)了金屬碳納米管,，會(huì)導(dǎo)致短路,、漏電、脆弱易受干擾,。
針對(duì)這兩大難題,，研究人員設(shè)計(jì)了一種*的“缺陷-免疫”模式，出*個(gè)全晶片級(jí)的數(shù)字邏輯裝置,，能不受碳納米管線向錯(cuò)誤和位置錯(cuò)誤的影響,。此外，他們還發(fā)明了一種能從線路中清除那些不必要元素的方法,，從而解決了金屬碳納米管的問(wèn)題,。他們的設(shè)計(jì)方法有兩個(gè)突出特點(diǎn)，首先是沒(méi)有犧牲碳納米管能效,，其次還能與現(xiàn)有的方法和設(shè)施兼容,，很容易實(shí)現(xiàn)商業(yè)化應(yīng)用。
他們的研究zui近還被作為電子設(shè)備大會(huì)(IEDM)的邀請(qǐng)論文,，以及美國(guó)電器與電子工程師協(xié)會(huì)(IEEE)會(huì)報(bào)集成線路與系統(tǒng)計(jì)算機(jī)輔助設(shè)計(jì)方面的“主題論文”,。
下一步，研究人員將嘗試造出數(shù)字集成系統(tǒng)的基本組件：計(jì)算線路與序列存儲(chǔ),，以及*高度一體化的整體三維集成電路,。