目錄:深圳德譜儀器有限公司>>鍍層測厚儀/膜厚儀>>鍍層測厚儀>> Thick800DX熒光/X射線測厚儀(膜厚儀)
X熒光/X射線測厚儀(膜厚儀)性能特點
滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求
φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求
高精度移動平臺可精確定位測試點,,重復(fù)定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光,可自動定位測試高度
定位激光確定定位光斑,,確保測試點與光斑對齊
鼠標可控制移動平臺,,鼠標點擊的位置就是被測點
高分辨率探頭使分析結(jié)果更加精準
良好的射線屏蔽作用
測試口高度敏感性傳感器保護
X熒光/X射線測厚儀(膜厚儀)技術(shù)指標
型號:Thick 800A
元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)。
一次可同時分析zui多24個元素,,五層鍍層,。
分析檢出限可達2ppm,zui薄可測試0.005μm,。
分析含量一般為2ppm到99.9% ,。
鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)(每種材料有所不同)
任意多個可選擇的分析和識別模型。
相互獨立的基體效應(yīng)校正模型,。
多變量非線性回收程序
多次測量重復(fù)性可達0.1%
長期工作穩(wěn)定性可達0.1%
度適應(yīng)范圍為15℃至30℃,。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。
儀器尺寸:534(W) x 480 (D) x525(H) mm
重量:80 kG
標準配置:
高低壓電源(美國Spellman進口)
大功率X光管(英國Oxford牛津進口)
電制冷半導(dǎo)體探測器(美國AMPTEK進口)
多道分析器(美國進口)
控制電路
高壓單元
移動樣品臺
高清晰CCD
準直器:含Ф8.0mm,、Ф6.0mm,、Ф2.0mm、Ф1.0mm,、Ф0.5mm,、Ф0.2mm各一個
濾光片:5組濾光片
計算機:品牌商務(wù)電腦(內(nèi)存2G、硬盤200G),,17寸液晶顯示器
打印機:彩色噴墨打印機
應(yīng)用范圍:
RoHS檢測分析
地礦與合金(銅合金,、鋅合金、鎂合金,、鈦合金,、鈷合金、不銹鋼等金屬樣品的成分等)成分分析
金屬鍍層的厚度測量,、電鍍液和鍍層含量的測定
黃金,,鉑,銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測
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