關于X射線熒光光譜儀的詳細介紹：
X射線熒光光譜儀簡單，相互干擾少,，樣品不必分離,，分析方法比較簡便，分析濃度范圍較寬,從常量到微量都可分析。重元素的檢測限可達ppm量級,，輕元素稍差,，分析樣品不被破壞，分析快速,，準確,，便于自動化。
X射線熒光光譜儀可分為具有高分辨率的光譜儀,，分辨率較低的便攜式光譜儀,，和介于兩者之間的臺式光譜儀。高分辨率光譜儀通常采用液氮冷卻的半導體探測器,，如Si（Li）和高純鍺探測器等,。低分辨便攜式光譜儀常常采用正比計數(shù)器或閃爍計數(shù)器為探測器，它們不需要液氮冷卻,。近年來,，采用電致冷的半導體探測器，高分辨率譜儀已不用液氮冷卻,。同步輻射光激發(fā)X射線熒光光譜,、質(zhì)子激發(fā)X射線熒光光譜、放射性同位素激發(fā)X射線熒光光譜,、全反射X射線熒光光譜,、微區(qū)X射線熒光光譜等較多采用的是能量色散方式。
X射線熒光光譜儀具有重現(xiàn)性好,，測量速度快,，靈敏度高的特點。能分析F（9）～U（92）之間所有元素,。樣品可以是固體,、粉末、熔融片,，液體等,，分析對象適用于煉鋼、有色金屬,、水泥,、陶瓷、石油,、玻璃等行業(yè)樣品,。無標半定量方法可以對各種形狀樣品定性分析，并能給出半定量結果,，結果準確度對某些樣品可以接近定量水平,，分析時間短,。
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