分析rohs檢測(cè)儀的原理：
rohs檢測(cè)儀就是X射線熒光光譜儀，其分析原理也就是X射線熒光光譜儀的分析原理,。X射線熒光光譜儀通?？煞譃閮纱箢悾ㄩL色散X射線熒光光譜儀（WDXRF）和能量色散X射線熒光光譜儀（EDXRF）,，波長色散光譜儀主要部件包括激發(fā)源,、分光晶體和測(cè)角儀、探測(cè)器等,，而能量色散光譜儀則只需激發(fā)源和探測(cè)器和相關(guān)電子與控制部件,，相對(duì)簡單。
rohs檢測(cè)儀波長色散X射線熒光光譜儀使用分析晶體分辨待測(cè)元素的分析譜線,，根據(jù)Bragg定律,，通過測(cè)定角度，即可獲得待測(cè)元素的譜線波長：nλ=2dsinaθ（n=1,2,3…）,，式中,，λ為分析譜線波長；d為晶體的晶格間距,；θ為衍射角,；n為衍射級(jí)次。利用測(cè)角儀可以測(cè)得分析譜線的衍射角,，利用上式可以計(jì)算相應(yīng)被分析元素的波長,，從而獲得待測(cè)元素的特征信息。
rohs檢測(cè)儀能量色散射線熒光光譜儀則采用能量探測(cè)器,，通過測(cè)定由探測(cè)器收集到的電荷量,，直接獲得被測(cè)元素發(fā)出的特征射線能量：Q=kE，式中,，K為入射射線的光子能量,；Q為探測(cè)器產(chǎn)生的相應(yīng)電荷量；k為不同類型能量探測(cè)器的響應(yīng)參數(shù),。電荷量與入射射線能量成正比,，故通過測(cè)定電荷量可得到待測(cè)元素的特征信息,。
rohs檢測(cè)儀待測(cè)元素的特征譜線需要采用一定的激發(fā)源才能獲得。目前常規(guī)采用的激發(fā)源主要有射線光管和同位素激發(fā)源等,。
rohs檢測(cè)儀為獲得樣品的定性和定量信息,，除光譜儀外，還必須采用一定的樣品制備技術(shù),，并對(duì)獲得的強(qiáng)度進(jìn)行相關(guān)的譜分析和數(shù)據(jù)處理,。
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