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膜厚計的校正
閱讀：879 發(fā)布時間：2013-3-14
膜厚計的校正
以美國狄夫斯高膜厚計而言,，校正的原理及方式很簡單。
膜厚計的測頭就像磁鐵一樣,，將測頭在待測材料的素材【尚未有任何涂裝或電鍍的裸材】上測量,，此時，膜厚計會感測到此材料的 大磁吸力,；當(dāng)我們將標(biāo)準(zhǔn)校正膜片放在素材上【就如同涂上一層己知厚度的涂裝層】,，我們再用測頭在上面量測時，膜厚計會得到一個相對較小的磁吸力【因為,，測頭與素材間多了一道膜厚片的距離,，因此，磁吸力會變小】,，如此,，越厚的標(biāo)準(zhǔn)片會測得相對越小的磁吸力。我們只要將其相對的實際厚度值,，如：0um,、12um、50um,、100um等相對的值輸入給膜厚計,，膜厚計透過回歸計算后即會將此檢量曲線建立在記憶體中，當(dāng)我們測量未知膜厚的工作物時,，測頭感應(yīng)到某個磁吸力后,，以內(nèi)插法的方式，膜厚計即可顯示出其測得的膜厚值了,。