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干膜測(cè)厚儀日常故障因素分析
干膜測(cè)厚儀日常故障因素分析
一,、干膜測(cè)厚儀測(cè)量結(jié)果誤差大
測(cè)頭的放置方式對(duì)測(cè)量有很大影響,，在測(cè)量中應(yīng)使測(cè)頭與被測(cè)件表面保持垂直。并且測(cè)頭的放置時(shí)間不宜過(guò)長(zhǎng),，以免造成基體本身磁場(chǎng)的干擾,。測(cè)量時(shí)不要拖動(dòng)測(cè)頭，因?yàn)檫@樣不僅對(duì)測(cè)頭會(huì)造成磨損,，也不會(huì)得到準(zhǔn)確的測(cè)量結(jié)果,。
另外，基體金屬被磁化,、基體金屬厚度過(guò)小,、工件曲率過(guò)小、測(cè)量基座表面有銹蝕,、測(cè)量現(xiàn)場(chǎng)周?chē)须姶艌?chǎng)干擾等因素,，都有可能引起干膜測(cè)厚儀測(cè)量結(jié)果的異常。
二,、干膜測(cè)厚儀示值顯示不穩(wěn)定
導(dǎo)致干膜測(cè)厚儀示值顯示不穩(wěn)定的原因,，主要是來(lái)自工件本身的材料和結(jié)構(gòu)的特殊性，比如工件本身是否為磁性材料,，如果是磁性材料我們就要選擇磁性干膜測(cè)厚儀,，如果工件為非磁性，我們就得選擇渦流干膜測(cè)厚儀,。
再者,，被測(cè)件的表面粗糙度和附著物也是引起儀器示值顯示不穩(wěn)定的重要因素，干膜測(cè)厚儀的測(cè)頭對(duì)那些妨礙與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)極其敏感,。必須保證探頭與覆蓋層表面直接接觸,。
因此，排除這種故障的要點(diǎn)就是：測(cè)量前清除被測(cè)件接觸面的灰塵,、細(xì)屑,、油脂及腐蝕產(chǎn)物等附著物,，但不要除去任何覆蓋層物質(zhì),。再有就是在進(jìn)行系統(tǒng)調(diào)零時(shí),，所使用的基體表面必須是清潔、光滑的,。
如感覺(jué)測(cè)量結(jié)果偏差比較大時(shí),，請(qǐng)先用干膜測(cè)厚儀配備的標(biāo)準(zhǔn)片做一輪測(cè)試，如偏離允許誤差較遠(yuǎn)則有可能是儀器本身出了問(wèn)題,，需返廠檢修,。在系統(tǒng)校準(zhǔn)時(shí)沒(méi)有選擇合適的基體?；w最小平面為7mm,，最小厚度為0.2mm，低于此臨界條件測(cè)量是不可靠的,。
三,、干膜測(cè)厚儀屏幕不顯示數(shù)據(jù)
原因就是檢查電池是否電量充足，確定電池電量充足后如發(fā)現(xiàn)測(cè)量還是不顯示數(shù)值,，可以考慮是否有測(cè)頭及連線有松動(dòng),、斷開(kāi)或接觸不良現(xiàn)象、電池漏液后腐蝕儀器內(nèi)電子零部件等因素影響,。
四,、干膜測(cè)厚儀自身發(fā)生故障
長(zhǎng)期處于工作狀態(tài)的干膜測(cè)厚儀，極有可能發(fā)生震動(dòng),、跌落,、等意外，或所處的工作環(huán)境有磁場(chǎng)干擾,，致使儀器內(nèi)部電子零件受干擾至損,，又是由于經(jīng)多人次、多地點(diǎn)使用,，導(dǎo)致儀器測(cè)量數(shù)據(jù)不可靠等現(xiàn)象,，所以建議盡量保證專(zhuān)人使用和保管儀器，發(fā)生故障及時(shí)返廠維修,，不得擅自拆機(jī)檢測(cè),。
五、人為因素
干膜測(cè)厚儀之所以能夠測(cè)量到微米級(jí)就因?yàn)樗軌虿扇〈磐康奈⑿∽兓?，并把它轉(zhuǎn)化成為數(shù)字信號(hào),。使用者在測(cè)量過(guò)程中，如果對(duì)儀器不熟悉就可能使測(cè)頭偏離被測(cè)體,，使磁通量發(fā)生變化造成錯(cuò)誤測(cè)量,。使用者初次使用儀器時(shí),，要先認(rèn)真研讀說(shuō)明書(shū)，掌握好測(cè)量方法,。