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MikroTest涂層測厚儀測量原理及應用
MikroTest涂層測厚儀測量原理及應用
所有MikroTest涂層測厚儀都是依據(jù)磁吸力的測量原理進行設計生產(chǎn)的。測量磁鋼與磁性基體間的磁吸力與盤狀彈簧的彈力平衡,，盤狀彈簧的旋轉(zhuǎn)彈力的大小與涂層厚度有直接關(guān)系,。
MikroTest涂層測厚儀中G6，F(xiàn)6,，G7,，F(xiàn)7，S3,，S5,，S10和S20型主要用于測量鋼鐵基體上的非磁性涂鍍層；Ni50和Ni100主要用于測量銅鋁塑料基底上鍍鎳,；NiFe50主要用于測量鋼鐵基體上的鍍鎳層,。
麥考特測厚儀根據(jù)量程大小可分為G6，F(xiàn)6,，G7,，F(xiàn)7，S3,，S5,，S10和S20以及筆式測厚儀等各種不同規(guī)格的測厚儀,最小的測量范圍是0-100微米，最大的是7.5-20毫米,；又根據(jù)表現(xiàn)形式分為圓盤指針式的和數(shù)字顯示的(如新型的G7,，F(xiàn)7等)；還根據(jù)外觀的不同分為香蕉形的(俗稱)和筆式測厚儀,特別要注意的是,，EPK還有二種特殊規(guī)格的麥考特測厚儀：即測量銅鋁塑料基底上鍍鎳的Ni50,，Ni100和測量鐵基底上鍍鎳的NiFe50。
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