您好, 歡迎來到化工儀器網(wǎng)
產(chǎn)品分類品牌分類
-
二氧化碳檢測(cè)儀 粉塵采樣器 黑白密度計(jì) 酒精測(cè)試儀 輻照計(jì) 亮度計(jì) 制冷劑檢漏儀 多功能測(cè)量?jī)x 浮游細(xì)菌采樣器 差壓儀 氣溶膠稀釋器 空氣動(dòng)力學(xué)粒徑譜儀 呼吸器密合度測(cè)試儀 空氣質(zhì)量檢測(cè)儀 UV能量計(jì) 透光率儀 水質(zhì)采樣器 氮吹儀 汽車尾氣分析儀 張力儀 噪音計(jì)聲級(jí)計(jì)音量計(jì) 氣體檢測(cè)儀 煙氣分析儀/不透光煙度計(jì) 酸度計(jì)PH計(jì) 露點(diǎn)儀 水分儀 電導(dǎo)率儀 塵埃粒子計(jì)數(shù)器 濁度計(jì) 溫度計(jì) 電磁輻射計(jì) 大氣采樣器 照度計(jì)照度表 溶氧儀 溫濕度計(jì) 風(fēng)速儀 粉塵儀
-
兆歐表 高斯計(jì)/磁通計(jì)/特斯拉計(jì) 漏電開關(guān)測(cè)試儀 接地電阻測(cè)試儀 絕緣電阻測(cè)試儀 相序表 真空表 射頻/通用頻率計(jì)數(shù)器/計(jì)時(shí)器 電容表 毫微微安計(jì)/皮安計(jì)/靜電計(jì)/高阻計(jì) 加速度測(cè)試儀 固相萃取裝置 射線檢測(cè)儀 微波漏能檢測(cè)儀 流量計(jì) 溫度校準(zhǔn)儀 壓力表/壓力計(jì) 音頻分析儀 LCR表 數(shù)據(jù)采集器 功率計(jì) 頻譜分析儀 毫伏表 自動(dòng)失真測(cè)試儀 直流微歐姆計(jì) 萬用表/鉗形表 交流電源 開關(guān)直流電源 線性直流電源 信號(hào)發(fā)生器/信號(hào)分析儀 示波器 安規(guī)測(cè)試儀 直流電阻測(cè)試儀 變壓器綜合測(cè)試儀 電橋 中國(guó)臺(tái)灣固緯 日本三和 美國(guó)福祿克 日本共立 其它
影響表面涂層測(cè)厚儀測(cè)量精度的因素有哪些
影響表面涂層測(cè)厚儀測(cè)量精度的因素有哪些
a 基體金屬磁性質(zhì)
磁性法測(cè)厚受基體金屬磁性變化的影響（在實(shí)際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的），為了避免熱處理和冷加工因素的影響,，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)；亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn),。
b 基體金屬電性質(zhì)
基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量有影響,，而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn),。
c 基體金屬厚度
每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度,。大于這個(gè)厚度，測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響,。本儀器的臨界厚度值見附表1,。
d 邊緣效應(yīng)
本儀器對(duì)試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不可靠的,。
e 曲率
試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響,。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此,，在彎曲試件的表面上測(cè)量是不可靠的,。
f 試件的變形
測(cè)頭會(huì)使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上測(cè)出可靠的數(shù)據(jù),。
g 表面粗糙度
基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對(duì)測(cè)量有影響,。粗糙程度增大，影響增大,。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差,，每次測(cè)量時(shí)，在不同位置上應(yīng)增加測(cè)量的次數(shù),，以克服這種偶然誤差,。如果基體金屬粗糙，還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對(duì)儀器的零點(diǎn),；或用對(duì)基體金屬?zèng)]有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后,，再校對(duì)儀器的零點(diǎn),。
g 磁場(chǎng)
周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場(chǎng)，會(huì)嚴(yán)重地干擾磁性法測(cè)厚工作,。
h 附著物質(zhì)
本儀器對(duì)那些妨礙測(cè)頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感,，因此，必須清除附著物質(zhì),，以保證儀器測(cè)頭和被測(cè)試件表面直接接觸,。
i 測(cè)頭壓力
測(cè)頭置于試件上所施加的壓力大小會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù)，因此,，要保持壓力恒定,。
j 測(cè)頭的取向
測(cè)頭的放置方式對(duì)測(cè)量有影響。在測(cè)量中,，應(yīng)當(dāng)使測(cè)頭與試樣表面保持垂直,。
使用規(guī)定
a 基體金屬特性
對(duì)于磁性方法，標(biāo)準(zhǔn)片的基體金屬的磁性和表面粗糙度,，應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似,。 對(duì)于渦流方法，標(biāo)準(zhǔn)片基體金屬的電性質(zhì),，應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的電性質(zhì)相似,。
b 基體金屬厚度
檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度，如果沒有,，可采用3.3中的某種方法進(jìn)行校準(zhǔn),。
c 邊緣效應(yīng)
不應(yīng)在緊靠試件的突變處，如邊緣,、洞和內(nèi)轉(zhuǎn)角等處進(jìn)行測(cè)量,。
d 曲率
不應(yīng)在試件的彎曲表面上測(cè)量。
e 讀數(shù)次數(shù)
通常由于儀器的每次讀數(shù)并不*相同,，因此必須在每一測(cè)量面積內(nèi)取幾個(gè)讀數(shù),。覆蓋層厚度的局部差異，也要求在任一給定的面積內(nèi)進(jìn)行多次測(cè)量,，表面粗造時(shí)更應(yīng)如此,。
f 表面清潔度
測(cè)量前，應(yīng)清除表面上的任何附著物質(zhì),，如塵土,、油脂及腐蝕產(chǎn)物等，但不要除去任何覆蓋層物質(zhì)
涂層測(cè)厚儀中F,，N以及FN的區(qū)別：
F代表ferrous 鐵磁性基體,，F(xiàn)型的涂層測(cè)厚儀采用電磁感應(yīng)原理， 來測(cè)量鋼,、鐵等鐵磁質(zhì)金屬基體上的非鐵磁性涂層,、鍍層,，例如：漆、粉末,、塑料,、橡膠、合成材料,、磷化層,、鉻、鋅,、鉛,、鋁、錫,、鎘,、瓷、琺瑯,、氧化層等,。
N代表Non- ferrous非鐵磁性基體，N型的涂層測(cè)厚儀采用電渦流原理,；來測(cè)量用渦流傳感器測(cè)量銅、鋁,、鋅,、錫等基體上的琺瑯、橡膠,、油漆,、塑料層等。
FN型的涂層測(cè)厚儀既采用電磁感應(yīng)原理,，又采用采用電渦流原理,，是F型和N型的二合一型涂層測(cè)厚儀。