1,、鹽霧測試35℃, 5%的Nacl溶液手機(jī)關(guān)機(jī)放入鹽霧試驗(yàn)箱內(nèi),，用繩子懸掛起來。實(shí)驗(yàn)周期是48個(gè)小時(shí),。取出樣機(jī),，放置48小時(shí)進(jìn)行常溫干燥，對其進(jìn)行外觀,、機(jī)械和電性能檢查,。手機(jī)各項(xiàng)功能正常，外殼表面及裝飾件無明顯腐蝕等異?，F(xiàn)象,。
2、溫度沖擊 -30℃ （45分鐘）+70℃ （45分鐘）手機(jī)關(guān)機(jī)放入武漢冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)內(nèi),，高溫低溫循環(huán)27次,。取出樣機(jī)，恢復(fù)2小時(shí)后進(jìn)行外觀,、機(jī)械和電性能檢查,。手機(jī)各項(xiàng)功能正常,，外殼無異變。
3,、振動振幅：0.38mm;振頻：10~30Hz;振幅：0.19mm;振頻：30~55Hz;手機(jī)開機(jī)放入振動臺,。X、Y,、Z三個(gè)軸向分別振動1個(gè)小時(shí)之后取出,，然后進(jìn)行外觀、機(jī)械和電性能檢查,。振動前5分鐘內(nèi)手機(jī)內(nèi)存和設(shè)置沒有丟失現(xiàn)象,，后55分鐘可以出現(xiàn)關(guān)機(jī)現(xiàn)象， 手機(jī)各項(xiàng)功能正常,，尤其是顯示和SPL,，外殼無嚴(yán)重?fù)p傷，內(nèi)部組件無脫落,。
4,、跌落試驗(yàn)1.5米高手機(jī)關(guān)機(jī)，6個(gè)面,，每個(gè)面跌落一次,，然后進(jìn)行外觀、機(jī)械和電性能檢查,。手機(jī)各項(xiàng)功能正常,，外殼無變形，7cm高,，20,000次手機(jī)關(guān)機(jī),，在一個(gè)混凝土臺面上低位跌落20,000次，一個(gè)產(chǎn)品正面朝下跌落,，一個(gè)產(chǎn)品背面朝下跌落,，然后進(jìn)行外觀、機(jī)械和電性能檢查,。 -10℃, 1.2米高手機(jī)關(guān)機(jī)放入低溫跌落試驗(yàn)箱2小時(shí)后,，進(jìn)行跌落試驗(yàn)，然后進(jìn)行外觀,、機(jī)械和電性能檢查,。
5、砂塵測試15~35℃, 45~75%RH條件下,，灰塵濃度：6±1g/m3,，氣流速度2m/s手機(jī)關(guān)機(jī)放入砂塵試驗(yàn)箱，每間隔59分鐘吹1次，時(shí)間1分鐘,，4天后取出,，并放置2小時(shí)，恢復(fù)至常溫,，然后進(jìn)行電性能,、機(jī)械性能的檢查。手機(jī)各項(xiàng)功能正常,，外殼無異變,。
6、高溫／低溫工作 -10℃ / 55℃ 手機(jī)開機(jī)放入高低溫試驗(yàn)箱,。2小時(shí)后,，進(jìn)行電性能檢查。手機(jī)電性能指標(biāo)滿足要求,，功能正常，外殼無變形,。
7,、中溫高濕+40℃, 93%RH 手機(jī)開機(jī)放入高低溫濕熱試驗(yàn)箱。48小時(shí)后,，進(jìn)行電性能檢查,。手機(jī)電性能指標(biāo)滿足要求，功能正常,，外殼無變形,。
8、高溫/低溫存儲-30℃ / +70℃手機(jī)關(guān)機(jī)放入高低溫試驗(yàn)箱,。24小時(shí)后,，取出，并放置2小時(shí),，恢復(fù)至常溫,，然后進(jìn)行電性能檢查。手機(jī)電性能指標(biāo)滿足要求,，功能正常,，外殼無變形。
9,、高溫高濕60℃,，90%RH手機(jī)關(guān)機(jī)放入溫度實(shí)驗(yàn)箱。60小時(shí)后取出,，恢復(fù)4小時(shí),，然后進(jìn)行外觀、機(jī)械和電性能檢查,。手機(jī)各項(xiàng)功能正常,，外殼無變形,。
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