老化(Burn in)是指采用高溫方法對產(chǎn)品施加環(huán)境應(yīng)力,而環(huán)境應(yīng)力篩選(ESS:Environment Stress Screen )則不僅包括高溫應(yīng)力,,還包括其他很多應(yīng)力,,例如溫度循環(huán)、隨機(jī)振動等,,如圖所示,。所以,老化是屬于環(huán)境應(yīng)力篩選的一種,。但現(xiàn)在很多公司已經(jīng)把“老化”這個詞的意義擴(kuò)展了,,老化就等同環(huán)境應(yīng)力篩選,環(huán)境應(yīng)力篩選俗稱為老化,,我們就沿用“老化”這個詞,。
在電子產(chǎn)品在加工過程中,由于經(jīng)歷了復(fù)雜的加工和元器件物料的大量使用,,將引入各種缺陷(即便設(shè)計再好的產(chǎn)品亦如此),。無論是加工缺陷還是元器件缺陷,都可分為明顯缺陷和潛在缺陷,,明顯缺陷指那些導(dǎo)致產(chǎn)品不能正常工作的缺陷,,例如短路/斷路。而潛在缺陷導(dǎo)致產(chǎn)品暫時可以使用,,但在使用中缺陷會很快暴露出來,,產(chǎn)品不能正常工作,,例如焊錫不足,產(chǎn)品雖然可以用,,但輕微振動可能就會使焊點斷路,。明顯缺陷可通過常規(guī)檢驗手段(即ICT:在線測試,In-Circuit Test,,是通過對在線元器件(制成板上的元器件)的電性能及電氣連接進(jìn)行測試來檢查生產(chǎn)制造缺陷及元器件不良的一種標(biāo)準(zhǔn)測試手段,。它主要檢查在線的單個元器件以及各電路網(wǎng)絡(luò)的開、短路情況,,具有操作簡單,、快捷迅速、故障定位準(zhǔn)確等特點,、FT等)加以發(fā)現(xiàn),。潛在缺陷則無法用常規(guī)檢驗手段發(fā)現(xiàn),而是運用老化的方法來剔除,。如果老化方法效果不好,,則未被剔除的潛在缺陷將zui終在產(chǎn)品運行期間以早期失效(或故障)的形式表現(xiàn)出來,從而導(dǎo)致產(chǎn)品返修率上升,,維修成本增加,。
其實,老化目的還有一個更重要的目的(和測試一樣):通過老化使產(chǎn)品加工工藝不斷改進(jìn),,使元器件品質(zhì)不斷改進(jìn),,改進(jìn)到不需要老化為止。電路板在老化以后一定要經(jīng)過測試,,假如在測試中發(fā)現(xiàn)某個元器件經(jīng)常損壞,,則說明該器件有潛在缺陷,需要供應(yīng)商改進(jìn)品質(zhì),。
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