老化是一種試驗,，用來篩選或排除少量因制造失常而導致固有缺陷或缺陷的設備,，而這些缺陷會引發(fā)和時間和應力相關的故障。
為什么要老化,？
可靠性專家經(jīng)常使用一個圖像來描述產(chǎn)品的壽命,，這個圖像被稱作浴盆曲線。
浴盆曲線由三個階段組成：故障率減小的早期故障階段,，接下來為正常壽命階段（也叫做有效壽命）,，故障率較低且相對穩(wěn)定，zui后為磨損階段,，故障率是增加的,。
很多類型的設備和系統(tǒng)在早期壽命中展示出固有的減少的故障率特性。相對較高的早期故障率通常歸因于生產(chǎn)過程中的固有不確定性,。很長時間以來,，老化已經(jīng)被認為是在交貨前檢測和消除部件或系統(tǒng)
早期故障的一種有效方法。沒有老化,，缺陷部件可能就被交付到了用戶手中,，導致昂貴的現(xiàn)場維修和名譽上的損害。
注意,，老化并非是產(chǎn)品改進技術,。對一些產(chǎn)品進行老化不能改善每個單元單獨的可靠性。然而,，老化通過清除劣質的部分來提高了整體的可靠性,，使得單元總體更加可靠和均勻。老化同樣還會提供
造成早期故障的不同故障機理的重要信息,，為監(jiān)控制造過程的質量工程師和幫助分析導致早期故障機理出現(xiàn)的變化提供有價值的反饋。
對一電子部件進行老化試驗,。在初始的試驗中,，累積的故障百分比如下：
1、第1天有6%故障
2,、第2天有10.1%故障
3,、第3天有12%故障
4,、第4天有13.8%故障
5、第5天有14.5%故障
6,、第6天有15%故障
7,、第7天有15.1%故障
老化就是藉由讓半導體進行超負荷工作而使缺陷在短時間內(nèi)出現(xiàn)，避免在使用早期發(fā)生故障,。如果不藉由老化,，很多半導體成品由于器件和制造制程復雜性等原因在使用中會產(chǎn)生很多問題。
尚測生產(chǎn)的各種老化房符合標準：1.GB/T 2423.2—2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫》,；2,、MIL-STD-883D、MIL-M-38510,、GJB548,、GJB597等試驗標準。
適用范圍：適用于各種封裝形式的大,、中,、小規(guī)模數(shù)字、模擬,、數(shù)?；旌霞呻娐罚ㄎ⑻幚砥?、邏輯電路,、可編程器件、存儲器,、A/D,、D/A等器件的工作壽命試驗和高溫動態(tài)老化篩選,。
一、集成電路高溫老化系統(tǒng)技術特點：
① 一板一區(qū),，可滿足16種不同試驗參數(shù)的器件同時老化,。
② 強大的圖形發(fā)生系統(tǒng),，64路數(shù)字和2路模擬可編程信號,。
③ 完善的、種類齊全的老化器件數(shù)據(jù)庫可供用戶調用,。
二、PCBA老化房技術性能
2.1、PCBA老化房試驗區(qū)域
16個 （一板一區(qū)）
8個 （一板一區(qū)）
2.2,、試驗容量
200×16=320位（以DIP14為例）
136×8=1088位（以DIP14為例）
2.2.1,、一級電源
8∽16臺25V/40A或40V/2等規(guī)格可選
4∽8臺25V/40A或40V/2等規(guī)格可選
2.2.2、二級電源
◆每個通道提供獨立程控的VCC,、VMUX,、VCLK、VEE四路二級電源,。
◆每路二級電源具有過壓,、欠壓,、過流、短路和過熱等保護功能,。
◆輸出能力：±1.00V～±18.00V/10A。
◆電源監(jiān)測：實時監(jiān)測記錄二級電源的電壓,，并可生成圖形曲線,，便于試驗監(jiān)控,。
2.2..3、數(shù)字信號
◆每個通道：64路數(shù)字信號,。
◆編程能力：編程深度256Kbit；蕞小編程步長：100ns,；編程分辨率：100ns；zui高信號頻率：5MHz,。
◆尋址能力：可尋址64Gbit(老化ROM/SRAM等) A00～A35, 可尋址行列地址刷新器件64Gbit（老化DRAM/SDRAM等）AXX～A17,，AYY：A00～A17。
◆信號特性：每路均具有數(shù)據(jù),、地址、控制,、三態(tài)屬性編輯功能。
◆驅動能力：IOL≥300mA,、IOH≥100mA,、Tr≤50ns、Tf≤50ns,。
2.2..4,、集成電路高溫老化系統(tǒng)模擬信號
◆模擬信號數(shù)：2路
◆波形類型：正弦波,、三角波,、前沿鋸齒波,、后沿鋸齒波、矩形波,。
◆模擬信號指標： 信號可編程頻率：1Hz～32KHz； 程控幅度范圍Vpp：0～±10V,；
直流偏移量范圍Vdc：0～1/2 Vpp,；編程步長: 0.01V；驅動能力：≥1.0A,；
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