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PCBA高溫老化房,集成電路高溫老化房系統(tǒng)

閱讀:4966      發(fā)布時間:2018-6-4
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老化是一種試驗(yàn),,用來篩選或排除少量因制造失常而導(dǎo)致固有缺陷或缺陷的設(shè)備,,而這些缺陷會引發(fā)和時間和應(yīng)力相關(guān)的故障。


為什么要老化,?

 
可靠性專家經(jīng)常使用一個圖像來描述產(chǎn)品的壽命,,這個圖像被稱作浴盆曲線

 

浴盆曲線由三個階段組成:故障率減小的早期故障階段,,接下來為正常壽命階段(也叫做有效壽命),,故障率較低且相對穩(wěn)定,zui后為磨損階段,,故障率是增加的,。

 

很多類型的設(shè)備和系統(tǒng)在早期壽命中展示出固有的減少的故障率特性。相對較高的早期故障率通常歸因于生產(chǎn)過程中的固有不確定性,。很長時間以來,,老化已經(jīng)被認(rèn)為是在交貨前檢測和消除部件或系統(tǒng)

早期故障的一種有效方法。沒有老化,,缺陷部件可能就被交付到了用戶手中,,導(dǎo)致昂貴的現(xiàn)場維修和名譽(yù)上的損害,。


注意,老化并非是產(chǎn)品改進(jìn)技術(shù),。對一些產(chǎn)品進(jìn)行老化不能改善每個單元單獨(dú)的可靠性,。然而,老化通過清除劣質(zhì)的部分來提高了整體的可靠性,,使得單元總體更加可靠和均勻,。老化同樣還會提供
造成早期故障的不同故障機(jī)理的重要信息,為監(jiān)控制造過程的質(zhì)量工程師和幫助分析導(dǎo)致早期故障機(jī)理出現(xiàn)的變化提供有價值的反饋,。

 

對一電子部件進(jìn)行老化試驗(yàn),。在初始的試驗(yàn)中,累積的故障百分比如下:

 
1,、第1天有6%故障
 
2,、第2天有10.1%故障

3、第3天有12%故障

4,、第4天有13.8%故障

5,、第5天有14.5%故障

6、第6天有15%故障

7,、第7天有15.1%故障

  
老化就是藉由讓半導(dǎo)體進(jìn)行超負(fù)荷工作而使缺陷在短時間內(nèi)出現(xiàn),,避免在使用早期發(fā)生故障。如果不藉由老化,,很多半導(dǎo)體成品由于器件和制造制程復(fù)雜性等原因在使用中會產(chǎn)生很多問題,。


尚測生產(chǎn)的各種老化房符合標(biāo)準(zhǔn):1.GB/T 2423.2—2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫》;2,、MIL-STD-883D,、MIL-M-38510、GJB548,、GJB597等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn),。


適用范圍:適用于各種封裝形式的大、中,、小規(guī)模數(shù)字,、模擬、數(shù)?;旌霞呻娐?,包括微處理器、邏輯電路,、可編程器件,、存儲器、A/D、D/A等器件的工作壽命試驗(yàn)和高溫動態(tài)老化篩選,。


一,、集成電路高溫老化系統(tǒng)技術(shù)特點(diǎn):

①  一板一區(qū),可滿足16種不同試驗(yàn)參數(shù)的器件同時老化,。

②  強(qiáng)大的圖形發(fā)生系統(tǒng),,64路數(shù)字和2路模擬可編程信號。

③  完善的,、種類齊全的老化器件數(shù)據(jù)庫可供用戶調(diào)用,。


二、PCBA老化房技術(shù)性能


2.1,、PCBA老化房試驗(yàn)區(qū)域
 
16個 (一板一區(qū))
 
 8個 (一板一區(qū))
 

2.2,、試驗(yàn)容量
 
200×16=320位(以DIP14為例)
 
136×8=1088位(以DIP14為例)  
 

2.2.1、一級電源
 
8∽16臺25V/40A或40V/2等規(guī)格可選
 
4∽8臺25V/40A或40V/2等規(guī)格可選
 

2.2.2,、二級電源
 
◆每個通道提供獨(dú)立程控的VCC,、VMUX、VCLK,、VEE四路二級電源,。

◆每路二級電源具有過壓、欠壓,、過流,、短路和過熱等保護(hù)功能。

◆輸出能力:±1.00V~±18.00V/10A,。

◆電源監(jiān)測:實(shí)時監(jiān)測記錄二級電源的電壓,,并可生成圖形曲線,便于試驗(yàn)監(jiān)控,。
 

2.2..3、數(shù)字信號

◆每個通道:64路數(shù)字信號,。

◆編程能力:編程深度256Kbit,;蕞小編程步長:100ns;編程分辨率:100ns,;zui高信號頻率:5MHz,。

◆尋址能力:可尋址64Gbit(老化ROM/SRAM等) A00~A35, 可尋址行列地址刷新器件64Gbit(老化DRAM/SDRAM等)AXX~A17,AYY:A00~A17,。

◆信號特性:每路均具有數(shù)據(jù),、地址、控制,、三態(tài)屬性編輯功能,。

◆驅(qū)動能力:IOL≥300mA、IOH≥100mA、Tr≤50ns,、Tf≤50ns,。
 

2.2..4、集成電路高溫老化系統(tǒng)模擬信號
 
◆模擬信號數(shù):2路

◆波形類型:正弦波,、三角波,、前沿鋸齒波、后沿鋸齒波,、矩形波,。

◆模擬信號指標(biāo): 信號可編程頻率:1Hz~32KHz; 程控幅度范圍Vpp:0~±10V,;

直流偏移量范圍Vdc:0~1/2 Vpp,;編程步長: 0.01V;驅(qū)動能力:≥1.0A,;

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