(1)背景校正能力
儀器背景校正的能力,,一般用一定背景吸光度校正前后比值來衡量,,該比值越大,表明儀器背景校正的能力越強(qiáng),。一般儀器要求氘燈儀器在1A背景下的背景校正能力不小于30倍,。塞曼儀器在1A背景下的背景校正能力不小于60倍。
(2)測(cè)試方法
對(duì)于火焰原子化器的儀器,,在Cd 228.8nm波長處,,先用非背景校正方式測(cè)量。調(diào)零后,,將吸光度約為1(透光率為10%)的濾光片插入光路,,讀下吸光度A1。再改為背景校正方式,,調(diào)零后,,再把該濾光片插入光路,,讀下吸光度A2。A1/A2即背景校正能力倍數(shù),。
對(duì)于帶有石墨爐原子化器的儀器,,將儀器參數(shù)調(diào)到石墨爐法測(cè)鎘的*狀態(tài),以峰高測(cè)量方式,,先進(jìn)行無背景校正方式測(cè)量,。在石墨爐中加入一定量氯化鈉溶液(5mg/mL)使產(chǎn)生吸光度為1左右的吸收信號(hào),讀下該值為A1,。再在背景校正方式下測(cè)量等量氯化鈉溶液的吸收值A(chǔ)2,,讀下吸光度A2。A1 /A2即背景校正能力倍數(shù),。
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