原子熒光光譜法(AFS)作為痕量分析技術(shù)的一種,,有哪些優(yōu)缺點(diǎn),?
閱讀:6759 發(fā)布時(shí)間:2020-5-8
原子光譜,是由原子中的電子在能量變化時(shí)所發(fā)射或吸收的一系列波長的光所組成的光譜,。原子光譜法是由原子外層或內(nèi)層電子能及的變化產(chǎn)生的,,表現(xiàn)形式為線光譜。常用的原子光譜有:
原子熒光光譜法(AFS)是一種痕量分析技術(shù),,是原子光譜法中的一個(gè)重要分支。是介于原子發(fā)射光譜法(AES)和原子吸收光譜法(AAS)之間的光譜分析技術(shù) ,,所用儀器及操作技術(shù)與原子吸收光譜法相近,。
1,、原子發(fā)射光譜法(AES)
2,、原子吸收光譜法(AAS)
3、原子熒光光譜法(AFS)
4,、X射線熒光光譜法(XFS)
原子熒光光譜法(AFS)是一種痕量分析技術(shù),,是原子光譜法中的一個(gè)重要分支。是介于原子發(fā)射光譜法(AES)和原子吸收光譜法(AAS)之間的光譜分析技術(shù) ,,所用儀器及操作技術(shù)與原子吸收光譜法相近,。
原子熒光光譜儀(AFS)與原子吸收光譜儀(AAS)和原子發(fā)射光譜儀(AES)相比,主要特點(diǎn)是:
1,、檢出限低,,靈敏度高,采用新的高強(qiáng)度光源可進(jìn)一步降低檢出限,;
2,、譜線簡單,干擾少,,對ICP -AFS來說,,幾乎沒有光譜干擾和基體干擾,其選擇性甚至優(yōu)于ISP-MS,;
3,、分析線性范圍寬,,可達(dá)3~5個(gè)數(shù)量級;
4,、由于原子熒光發(fā)射的空間多方性,,比較容易制造多道儀器,實(shí)現(xiàn)多元素的同時(shí)測定,;5,、儀器結(jié)構(gòu)簡單,價(jià)格便宜,,易于普及,。
1,、檢出限低,,靈敏度高,采用新的高強(qiáng)度光源可進(jìn)一步降低檢出限,;
2,、譜線簡單,干擾少,,對ICP -AFS來說,,幾乎沒有光譜干擾和基體干擾,其選擇性甚至優(yōu)于ISP-MS,;
3,、分析線性范圍寬,,可達(dá)3~5個(gè)數(shù)量級;
4,、由于原子熒光發(fā)射的空間多方性,,比較容易制造多道儀器,實(shí)現(xiàn)多元素的同時(shí)測定,;5,、儀器結(jié)構(gòu)簡單,價(jià)格便宜,,易于普及,。
盡管原子熒光分析法有許多優(yōu)點(diǎn),也還是存在部分不足之處:
1,、由于熒光猝滅效應(yīng)的存在,,致其在測定復(fù)雜基體樣品和高含量樣品時(shí),還有一定的困難,;
2,、原子熒光具有固有的散射光干擾,,使得其對激發(fā)光源和原子化器有較高的要求,,從而導(dǎo)致在現(xiàn)有技術(shù)條件下,原子熒光光譜分析理論上所具有的優(yōu)勢在實(shí)際中難以充分發(fā)揮出來,;
3,、除HG—AFS在測定As、Sb,、Se等易于生成氫化物的元素以及Hg等易于生成蒸氣的元素具有*的優(yōu)勢外,,目前AFS測定的元素種類較少;
4,、理論上AFS分析的線性范圍很寬,,但在目前的實(shí)際應(yīng)用中部分元素仍未能達(dá)到預(yù)想的線性范圍;
5,、氣相,、液相干擾機(jī)理等尚待進(jìn)一步研究。
因此,,AFS技術(shù)在應(yīng)用方面還不如AAS和AES廣泛,,三者具有各自的優(yōu)點(diǎn)和適應(yīng)范圍。這三種方法相互補(bǔ)充,,構(gòu)成一個(gè)完整的原子光譜分析體系,。
1,、由于熒光猝滅效應(yīng)的存在,,致其在測定復(fù)雜基體樣品和高含量樣品時(shí),還有一定的困難,;
2,、原子熒光具有固有的散射光干擾,,使得其對激發(fā)光源和原子化器有較高的要求,,從而導(dǎo)致在現(xiàn)有技術(shù)條件下,原子熒光光譜分析理論上所具有的優(yōu)勢在實(shí)際中難以充分發(fā)揮出來,;
3,、除HG—AFS在測定As、Sb,、Se等易于生成氫化物的元素以及Hg等易于生成蒸氣的元素具有*的優(yōu)勢外,,目前AFS測定的元素種類較少;
4,、理論上AFS分析的線性范圍很寬,,但在目前的實(shí)際應(yīng)用中部分元素仍未能達(dá)到預(yù)想的線性范圍;
5,、氣相,、液相干擾機(jī)理等尚待進(jìn)一步研究。
因此,,AFS技術(shù)在應(yīng)用方面還不如AAS和AES廣泛,,三者具有各自的優(yōu)點(diǎn)和適應(yīng)范圍。這三種方法相互補(bǔ)充,,構(gòu)成一個(gè)完整的原子光譜分析體系,。