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XR70-WLP2071型平均粒度測(cè)試儀是一種利用空氣透過(guò)原理制成的測(cè)試粉末平均粒度的儀器,。儀器結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,、操作方便,、不需復(fù)雜計(jì)算、測(cè)試速度快,、性能穩(wěn)定,，廣泛地應(yīng)用于磁性材料、粉末冶金,、鎢鉬材料,、難熔金屬、硬質(zhì)合金,、制藥,、陶瓷、水泥,、有色金屬,、非金屬、化合物等工業(yè)上和*的平均粒度測(cè)試儀（費(fèi)氏儀） 
平均粒度測(cè)試儀技術(shù)指標(biāo)： 
1,、精度： 3% 
2,、測(cè)試范圍： 0.2-50 μ m （微米） 
　　 *檔： 0.2-20 μ m 
　　 第二檔： 20-50 μ m 
3.孔隙度范圍：0.95－0.80
　　　　　　　0.80－0.40
　　　　　　　0.40－0.25 
4、準(zhǔn)確度：± 3% 
5,、環(huán)境濕度：相對(duì)濕度 <80% 
6,、環(huán)境溫度： 25 ± 10 ℃ 
7、電源： ～220 ± 22V 50赫茲
8,、功率： 25W 
9,、重量： 18kg 
10、外型尺寸： 746 × 394 × 240mm3