粒度分布調(diào)整生產(chǎn)成本
大多數(shù)的固體都是可以通過(guò)工業(yè)手段變成粉末狀存在的,。把固體變成粉狀可以測(cè)量平均密度,,振實(shí)密度等等,。比如金屬粉末測(cè)量之后可以控制產(chǎn)品制作時(shí)候的使用成本,,藥粉可以均勻配比調(diào)整好量之后制作藥品,。因此平均粒度儀的應(yīng)用十分廣泛,。了解平均粒度,,在進(jìn)一步生產(chǎn)研發(fā)上提供了更多的可能性。測(cè)試范圍:0.1μm~500μm
光 源:半導(dǎo)體激光器(波長(zhǎng)635 nm.功率3mw.使用壽命25000小時(shí)以上)
測(cè)試方式:濕法測(cè)試
樣品濃度:0.5‰~1%(與樣品的比重,、顆粒大小,、折射率有關(guān))
測(cè)試時(shí)間:少于1分鐘/次,,不含樣品分散時(shí)間
掃描速度:2000次/秒
重復(fù)性誤差:≦1%
電源:交流220V±10%50Hz或60Hz,功率:80W
微機(jī)接口:標(biāo)準(zhǔn) RS-232串行接口
操作系統(tǒng):可在Windows所有版本的操作系統(tǒng)下運(yùn)行