如今跟著電子產(chǎn)品電壓的不斷攀升，400V,，600V甚至1000V,，能知足如斯高電壓的電子負載型號非常有限,。于是良多人就會考慮將多臺電子負載串聯(lián)的辦法，但是絕大部門的電子負載都是無法串聯(lián)使用的,。

　　電子負載和直流電源一樣,，具有正、負極接線端子,，一般用于電源產(chǎn)品的測試時吸收電源的功率,。當(dāng)然，除了可編程直流電源,，包括DC-DC適配器,，鋰電池,，燃料電池或者太陽能板等都會使用到電子負載,。

　　假如我們要測試一個固定輸出20V，zui大電流,，功率100W的直流電源,，那我們就必需使用一臺電壓、電流及功率與之相稱,，甚至更大的可編程電子負載來吸收來自電源的功率,。由于電源是一個恒定電壓輸出20V的恒壓CV源，測試時電子負載就需要工作在恒流CC模式,，并設(shè)定其電流從0A至之間,。當(dāng)然，假如是其他類型的恒流CC直流電源,，電子負載就需要工作在恒壓CV模式,，還有一些情況需要電子負載工作在CR或者CP模式。關(guān)于直流電源及電子負載的恒壓CV或恒流CC模式,，可以閱讀我之前的博客文章,。

　　通常假如被測的直流電源的功率較大，而單個的電子負載沒有足夠的功率,，我們可能會但愿將多個電子負載進行串聯(lián)或并聯(lián)來擴展電子負載的功率,。假如是電流不夠，我們可以通過將多臺電子負載并聯(lián)起來,，但假如電壓不夠,，是否也可以使用幾臺電子負載進行串聯(lián)呢?為什么我們不使用大功率電子負載呢？

　　假如你這樣做,，估計你不但不能夠?qū)崿F(xiàn)你的測試目的,，更可能得到的結(jié)局是損壞電子負載。

　　接下來我們就一起分析這是為什么?當(dāng)然,，我們必需事先了解電子負載是如何工作的,。電子負載是通過控制和調(diào)整跨接在其輸入真?zhèn)€FET功率場效應(yīng)管RDS,，好像將多臺電子負載串聯(lián)應(yīng)該沒有什么大題目。如圖2所示,，如果我們將兩臺串聯(lián)的電子負載都設(shè)置為CC模式,，而且設(shè)置為*相同的電流值，譬如都設(shè)置為10.00A,。但實際上電子負載不可能是的10.00A,，假如其中一臺實際為9.99A，而另外一臺為10.01A,。這樣一來,，電子負載2就不可能達到其設(shè)置值，因此,，它就不停的減小FET的RDS直到0(短路),，這樣所有的電壓就全部加載到電子負載1上使得它過壓損壞。

　　也有人建議兩臺電子負載分別工作于恒流CC模式和恒壓CV模式,，而且這好像可以實現(xiàn)設(shè)定電壓,、電流點的工作狀態(tài)。但是如何讓這兩臺電子負載進入到設(shè)定的CC及CV工作點?

　　假設(shè)我們先設(shè)定好電子負載,，然后再將負載連接到被測電源,，設(shè)定于CC模式的電子負載由于沒有任何電流，因此將FET的RDS設(shè)置為0(短路);而設(shè)定于CV模式的電子負載由于沒有任何電壓,，將FET的RDS設(shè)置為+∞(開路),。所以在電源接入的瞬間，電源上的所有電壓100V都加載到CV模式的負載上,，就可能損壞,。

　　有一種折衷的方法，通過調(diào)節(jié)直流電源的上電電壓斜率,，讓被測的電源慢慢的抬升其輸出電壓(需要被測電源具備這樣的能力),，這樣有可能讓這兩臺串聯(lián)的電子負載進入設(shè)定的工作點。

　　即使這樣,，假如在工作過程中泛起任何異常,，觸發(fā)電子負載的保護，兩臺電子負載分別會進入短路或開路的情況,，依然會導(dǎo)致電源的電壓100V加載到電子負載輸入真?zhèn)€情況,，損壞電子負載。

　　通過以上分析,，我相信你已經(jīng)非常清晰為什么我們不*多臺電子負載進行串聯(lián)實現(xiàn)更高電壓測試了,。