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安泰信AZ530-H高阻抗探頭/頻譜分析儀高頻探頭
主要應(yīng)用于：
1.ENC電磁兼容測(cè)量評(píng)估
2.測(cè)量個(gè)別接點(diǎn)或印制板線路板的射頻干擾
3.可以定量地測(cè)量濾波器或其它隔阻性電路
4.產(chǎn)品前期的鑒定測(cè)試
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
安泰信AZ530-H高阻抗探頭/頻譜分析儀高頻探頭
產(chǎn)品詳細(xì)介紹
描述
AZ530高頻探頭系列是探測(cè)射頻電磁場(chǎng)的理想工具,。在產(chǎn)品發(fā)展階段，交于第三方進(jìn)行測(cè)試之前,，它是電磁干擾預(yù)認(rèn)證測(cè)試的*的工具,。該系列產(chǎn)品包括3種探頭，分別是：AZ530-M磁場(chǎng)探頭,、AZ530-E電場(chǎng)單極探頭和AZ530-H高阻抗探頭,，其中AZ530-E電場(chǎng)單極探頭前置放大器，使其頻率可測(cè)范圍從100KHz到超過1000MHz,。探頭與頻譜分析儀或射頻接收機(jī)的5050Ω輸入阻抗相匹配,。其供電可用電池，鎳鎘電池或通過電源線從頻譜儀送來。信號(hào)送出是通過1.5米BNC電纜,。當(dāng)與頻譜儀或測(cè)量接收機(jī)連用時(shí),，探頭可以找出或劃定電磁干擾源。同樣可評(píng)估電路板和樣機(jī)電磁兼容問題,。幫助使用者估計(jì)發(fā)射場(chǎng)以及加屏蔽后的性能比較,。也可進(jìn)行對(duì)電纜和組件的機(jī)械屏蔽性能和兼容性測(cè)試。
技術(shù)參數(shù)
頻率范圍：0.1MHz-1000MHz（更低的頻率極限取決于探頭）
輸出阻抗：50Ω
輸入電容：2pF（高阻抗探頭）
插座：BNC
zui大輸入電平：±10dBm（依賴頻率范圍）
直流輸入電壓：20Vmax
供電：6VDC,，4節(jié)AA電池,，頻譜儀供電
供電電流：8mA（磁場(chǎng)探頭）
探頭尺寸：195×40×19（L×W×H）㎜
外殼：塑料（內(nèi)部電屏蔽）
功能介紹
高阻抗探頭（Hi－Z）可以測(cè)量個(gè)別接點(diǎn)或印制板線路板的射頻干擾（RFI）。它是直接接觸式探頭,。它的阻抗很高（接近印制板的絕緣電阻）以及電容僅2pF（1GHz時(shí)80Ω）,。所以可以接觸上去而不影響電路的（不很大影響）關(guān)系。所以可以對(duì)線路板上個(gè)別點(diǎn)加以測(cè)試,。例如：可以定量地測(cè)量濾波器或其它隔阻性電路,。個(gè)別的IC腳可認(rèn)為是射頻干擾之源。通過這個(gè)高阻探頭,，至電路的測(cè)量點(diǎn),，探頭的輸出是低阻抗可聯(lián)接至頻譜儀的50Ω輸入端。
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AZ530高頻探頭系列是探測(cè)射頻電磁場(chǎng)的理想工具,。在產(chǎn)品發(fā)展階段，交于第三方進(jìn)行測(cè)試之前,，它是電磁干擾預(yù)認(rèn)證測(cè)試的*的工具,。該系列產(chǎn)品包括3種探頭，分別是：AZ530-M磁場(chǎng)探頭,、AZ530-E電場(chǎng)單極探頭和AZ530-H高阻抗探頭,，其中AZ530-E電場(chǎng)單極探頭前置放大器，使其頻率可測(cè)范圍從100KHz到超過1000MHz,。探頭與頻譜分析儀或射頻接收機(jī)的5050Ω輸入阻抗相匹配,。其供電可用電池，鎳鎘電池或通過電源線從頻譜儀送來。信號(hào)送出是通過1.5米BNC電纜,。當(dāng)與頻譜儀或測(cè)量接收機(jī)連用時(shí),，探頭可以找出或劃定電磁干擾源。同樣可評(píng)估電路板和樣機(jī)電磁兼容問題,。幫助使用者估計(jì)發(fā)射場(chǎng)以及加屏蔽后的性能比較,。也可進(jìn)行對(duì)電纜和組件的機(jī)械屏蔽性能和兼容性測(cè)試。
技術(shù)參數(shù)
頻率范圍：0.1MHz-1000MHz（更低的頻率極限取決于探頭）
輸出阻抗：50Ω
輸入電容：2pF（高阻抗探頭）
插座：BNC
zui大輸入電平：±10dBm（依賴頻率范圍）
直流輸入電壓：20Vmax
供電：6VDC,，4節(jié)AA電池,，頻譜儀供電
供電電流：8mA（磁場(chǎng)探頭）
探頭尺寸：195×40×19（L×W×H）㎜
外殼：塑料（內(nèi)部電屏蔽）
功能介紹
高阻抗探頭（Hi－Z）可以測(cè)量個(gè)別接點(diǎn)或印制板線路板的射頻干擾（RFI）。它是直接接觸式探頭,。它的阻抗很高（接近印制板的絕緣電阻）以及電容僅2pF（1GHz時(shí)80Ω）,。所以可以接觸上去而不影響電路的（不很大影響）關(guān)系。所以可以對(duì)線路板上個(gè)別點(diǎn)加以測(cè)試,。例如：可以定量地測(cè)量濾波器或其它隔阻性電路,。個(gè)別的IC腳可認(rèn)為是射頻干擾之源。通過這個(gè)高阻探頭,，至電路的測(cè)量點(diǎn),，探頭的輸出是低阻抗可聯(lián)接至頻譜儀的50Ω輸入端。