應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子,電氣 |
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標(biāo)準(zhǔn)安裝了可從外部調(diào)用的面板存儲器及 RS232C 接口,因此也可以靈活對應(yīng)自動化系統(tǒng)。
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更新時間:2024-11-23 12:00:28瀏覽次數(shù):2442
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KIKUSUI菊水TOS7210S絕緣電阻測試儀
可在 50Vdc-2000Vdc(分辨率 1V)范圍內(nèi)實施設(shè)定
可通過面板側(cè)的開關(guān)即時切換施加電壓極性
輸出端子與接地電位間為浮地狀態(tài),。只測量通過測量點間的電流
可對電流測量值或電阻測量值進行切換顯示
KIKUSUI菊水TOS7210S絕緣電阻測試儀
PID 絕緣測試儀(TOS7210S)是為準(zhǔn)確有效地對太陽能電池模塊的 PID(Potential Induced Degradation) 現(xiàn)象進行評估, 以絕緣電阻測試儀(TOS7200)為基礎(chǔ)設(shè)計而成的測試儀,。附有極性切換功能,,輸出電壓可達 2000V, 同時裝載了 nA 級分辨率的電流表,因此不只可以進行 PID 評估,還可以用于要求進行高敏感度測試的絕緣體評估測試,。標(biāo)準(zhǔn)安裝了可從外部調(diào)用的面板存儲器及 RS232C 接口,,因此也可以靈活對應(yīng)自動化系統(tǒng)。
PID 現(xiàn)象是指太陽能電池與邊框長期被施以高電壓,,電池發(fā)電量顯著降低的現(xiàn)象。目前認(rèn)為所施加的電壓越高并且越是在高溫,、高濕的 環(huán)境下劣化現(xiàn)象越嚴(yán)重,。如晶體硅太陽能電池模塊的輸出電壓即使只有數(shù)十 V,一旦直接連接的片數(shù)增加,,串內(nèi)的電位差將變得非常 高,。一方面,PCS(Power Conditioning System)作為交流電源與系統(tǒng)相連 , 使接地形態(tài)發(fā)生變化,。輸入端采用浮接(一側(cè)電極不能接地 線)的無變壓器方式近年也有所增加,。這種情況下電池和地線間將發(fā)生高電位差。晶體硅太陽能電池模塊中,,相對于邊框(接地線)負(fù)極電位高的電池容易發(fā)生 PID 現(xiàn)象,。(請參照圖 1) 目前,日本國內(nèi)以 Max 600V,、歐洲以 max 1000V 的系統(tǒng)電壓運行太陽能電池模塊,,但是目前出現(xiàn)了提高 Max 系統(tǒng)電壓以削減企業(yè)用大規(guī)模太陽能發(fā)電系統(tǒng)的串?dāng)?shù)、PCS 總數(shù),,提高發(fā)電效率的趨勢,。
圖 2 模擬了晶體硅太陽能電池模塊處于高電位差的狀況,。 邊框為正極電位、模塊電路處于負(fù)電位的狀況,。晶體硅太陽能電池模塊的PID現(xiàn)象被認(rèn)為是白板強化玻璃內(nèi)的鈉離子向單元側(cè)移動,,從而引起劣化。(薄膜類太陽能電池模塊也被確認(rèn)出現(xiàn) PID 現(xiàn)象,,但是發(fā)生劣化的機制與晶體硅太陽能電池模塊不同,。)現(xiàn)在,各種研究機構(gòu)正在通過研究,、試驗查找 PID 現(xiàn)象的原因,。
可將對測試物施加的測試電壓設(shè)定在 50Vdc-2000Vdc(分辨率1V)的范圍內(nèi)。 假設(shè)太陽光發(fā)電系統(tǒng)的電壓在1000V以上,,可對其進行評估,。此外, 在電氣 · 電子部件,、電氣 · 電子設(shè)備的絕緣電阻測試中,, 也可對應(yīng)JIS C 1302: 1994所規(guī)定的電壓范圍以外的測試。 在50V-1000V范圍內(nèi),, 輸出特性以JIS C 1302: 1994為基準(zhǔn),。
輸出端子與接地電位間為浮地狀態(tài)。*1此外,,使用屏蔽電纜作為輸出電纜,。 這樣就可以不測量被測試物與大地間的電流, 只測量測試點間的電流,, 就可確保評估測試的高敏感度和精確性,。
*1:設(shè)定為正極的端子的對地電壓(±1000Vdc) 設(shè)定為負(fù)極的端子的對地電壓(+1000Vdc及-3000Vdc)
可通過主機面板的開關(guān)輕松切換輸出極性。 PID現(xiàn)象是一種可逆現(xiàn)象,,施加負(fù)偏壓電壓可能會恢復(fù),。 極性切換是一項不需要對被檢品實施配線變更的便利功能。 此外,,通過RS232C接口可實施由外部控制的切換,。
在電阻顯示模式中,基于對數(shù)壓縮將對應(yīng)電阻測量值的電壓輸出限制在0V-4V之間,。 在電流顯示模式中,,對應(yīng)電流測量值及測量量程(4個量程)按線性標(biāo)度輸出。 使用數(shù)據(jù)記錄器等外部記錄設(shè)備可對被測試物的變化,、劣化狀況進行解析,。