x射線管產(chǎn)生入射x射線(一次x射線),激發(fā)被測樣品,。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會放射出二次x射線,,并且不同的元素所放射出的二次x射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統(tǒng)測量這些放射出來的二次x射線的能量及數(shù)量,。然后,,儀器軟件將探測系統(tǒng)所收集到的信息轉(zhuǎn)換成樣品中各種元素的種類及含量。
X射線熒光光譜儀是由物質(zhì)中的組成元素產(chǎn)生的特征輻射,,通過側(cè)里和分析樣品產(chǎn)生的的產(chǎn)生與特性當(dāng)用高能電子束照射樣品時,,人射高能電子被樣品中的電子減速,這種帶電拉子的負(fù)的加速度會產(chǎn)生寬帶的連續(xù)X射線譜,,簡稱為連續(xù)潛或韌致輻射,。另一方面,化學(xué)元素受到高能光子或粒子的照射,,如內(nèi)層電子被激發(fā),,則當(dāng)外層電子躍遷時,就會放射出特征X射線,。
用途:具有重現(xiàn)性好,,測量速度快,靈敏度高的特點,。能分析f(9)~u(92)之間所有元素,。樣品可以是固體,、粉末、熔融片,,液體等,,分析對象適用于煉鋼、有色金屬,、水泥,、陶瓷、石油,、玻璃等行業(yè)樣品,。
X射線熒光光譜儀的測試步驟:
(1)選擇分析方法與制樣方法。分析方法一般有基本參數(shù)法,、半基本參數(shù)法,、經(jīng)驗系數(shù)法等,制樣方法一般有拋光法,、壓片法,、濾紙片法和熔片法,常用粉末壓片法制樣,,采用基本參數(shù)法測試,。
(2)將制備好的樣片裝進樣品杯,放入樣品交換器中,,自動進樣至樣品室,,X射線管發(fā)出原級X射線照射樣品,激發(fā)出待測元素的熒光X射線,。
(3)樣品輻射出的熒光X射線通過分光晶體,,將X射線熒光光譜色散成孤立的單色分析線,由探測器測量各譜線的強度,,根據(jù)選用的分析方法換算成元素濃度,,得到樣品中待測元素含量。