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進(jìn)口直讀光譜儀測定硅青銅中雜質(zhì)元素
硅青銅是銅合金青銅中的特定牌號,，其包括Qsi3-1 ,，Qsil -3 ，Qsi0.6-2 ,，其要求分析檢測九個元素,，由于分析元素多，標(biāo)準(zhǔn)含量低,，使得分析檢測難度較大,，根據(jù)光電直讀光譜儀的特點(diǎn)，制作了硅青銅的工作曲線和分析程序,，并進(jìn)行了比較,，滿足了硅青銅的分析要求，檢測結(jié)果準(zhǔn)確可靠，保證了分析檢測的及時,、快速,、準(zhǔn)確，節(jié)省了大量的人力和物力,。
儀器
直讀光譜分析儀SPECTRO LAB S（德國斯派克公司）
實(shí)驗部分
國家標(biāo)準(zhǔn)樣品Qsi313,，成分如下表。
比對校核
取硅青銅標(biāo)樣Qsi1-3進(jìn)行分析,，每個樣品分析三次取平均值,，與化學(xué)定值結(jié)果比對，列出部分代表性元素,，具體結(jié)果見表,。
硅青銅標(biāo)樣對比數(shù)據(jù)（%）
從表中數(shù)據(jù)可以看出，其分析結(jié)果與化學(xué)定值一致性良好,，差值小于允許差,，說明該分析方法可靠，準(zhǔn)確度高,。
精密度
取已定值的國家標(biāo)準(zhǔn)樣品Qsi313-923-11,， 進(jìn)行精密度試驗，連續(xù)激發(fā)12次,，計算平均值,、標(biāo)準(zhǔn)偏差、相對偏差,，結(jié)果見表,。
精密度檢驗（%）
從表數(shù)據(jù)中可以看出，各元素的RSD值均在0.87%~8.39%,，精密度非常高,，*標(biāo)準(zhǔn)要求。
通過試驗,，證明該分析方法簡便快速,，精密度和準(zhǔn)確度高，能夠滿足硅青銅在日常分析檢測的要求,，在日常分析檢測中,，只要保證試樣面符合分析要求，就能夠保證分析的準(zhǔn)確性,。
直讀光譜分析儀SPECTRO LAB S
40多年來,，SPECTRO全心投入開發(fā)出先進(jìn)的發(fā)射光譜儀。今天,，斯派克公司完美引入CMOS探測器技術(shù),，*改變了電弧/火花分析技術(shù)的走向及未來,。在所有同類分析儀中，SPECTROLAB S所提供分析速度超出想象,，低元素檢測限,，同時也可以提供超長的正常運(yùn)行時間和非常具有前瞻性的靈活性。
SPECTRO LAB S 擁有基于CMOS的探測器的記錄系統(tǒng),，該系統(tǒng)非常適合于高duan金屬分析,。從微量元素到多基體應(yīng)用，它提供了快速,、高度準(zhǔn)確,、異常靈活的技術(shù)選擇。
樣品的分析速度是儀器先進(jìn)性的重要標(biāo)志,，SPECTRO LAB S的推出*了金屬分析市場對速度的需求,。例如：當(dāng)檢測低合金鋼時，它可以在20秒或更短的時間內(nèi)提供高準(zhǔn)確度的測量值,！
從技術(shù)指標(biāo)和實(shí)際使用效果看,，SPECTRO LAB S均是適合金屬冶煉廠的測試需求。對于金屬再加工生產(chǎn)商,、汽車和航空航天制造商,、以及成品和半成品、電子產(chǎn)品,、半導(dǎo)體等制造商來說,，可以給出的解決方案同樣出色。
創(chuàng)新點(diǎn)
1,、獨(dú)立雙光室,，確保所有分析譜線都獲得很高分辨率。 SPECTROLAB S 配備兩套完整的光學(xué)系統(tǒng),。一個光室jing確測量波長從120到240納米（nm）;另一個光室,，波長范圍從210到800納米（nm）。 兩個光室都采用先進(jìn)的CMOS檢測器,，具備恒溫裝置和壓力補(bǔ)償功能,。
2、等離子發(fā)生器數(shù)字光源和點(diǎn)火板可靠的新型高能LDMOS等離子發(fā)生器光源,，為SPECTROLAB S 輸出高穩(wěn)定的火花放電,，頻率高達(dá)1000 Hz,，只需要很短的時間即可完成測試,，例如分析低合金鋼小于 20 秒。該系統(tǒng)還允許特定應(yīng)用的火花參數(shù)設(shè)置,，以優(yōu)化分析性能,。
3,、精密氬氣控制系統(tǒng) SPECTROLAB S 采用全新程控流量。軟件根據(jù)分析程序精密設(shè)置氬氣流量,。節(jié)約了氬氣消耗,。氬氣閥體直接耦合到火花臺，無需管道連接,，避免漏氣,。
4、火花臺清理間隔大大延長 堅固的陶瓷內(nèi)芯避免積塵粘附,。流暢的氣路設(shè)計確保了很少的粉塵殘留（使得清理間隔時間延長了8倍）,；對于大樣品量輸出的全自動光譜儀系統(tǒng)尤為重要。
5,、快速讀出系統(tǒng) 斯派克的GigE創(chuàng)新讀出系統(tǒng)確保海量數(shù)據(jù)的極速處理,，從而支持儀器性能表現(xiàn)。實(shí)現(xiàn)了*的全光譜范圍譜圖記錄,。
6,、低檢出限。SPECTROLAB S 采用的 CMOS+T技術(shù),，在關(guān)鍵元素的檢測限方面,，超越光電倍增管技術(shù)的性能。通過配置參比通道,，工作曲線可以獲得很好優(yōu)化,，可以快速定量分析ppm量級的高純金屬或合金中的痕量元素。
7,、元素在低合金鋼中平均檢測限改善2倍,，元素在純鋁中的平均檢測限改善5倍。
8,、單一標(biāo)樣實(shí)現(xiàn)整個系統(tǒng)的標(biāo)準(zhǔn)化, 此項每天可節(jié)省30分鐘工作時間,。