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擺脫傳統(tǒng)分析繁瑣,！日本理學(xué)光譜儀快速分析硫化礦
X射線熒光光譜分析技術(shù)(XRF)是利用X射線與物質(zhì)產(chǎn)生的X射線熒光而進(jìn)行的元素分析方法,，采用探測(cè)器檢測(cè)特征X射線熒光的能量和強(qiáng)度，從而實(shí)現(xiàn)定性和定量分析,。X射線熒光光譜分析具有快速,、多元素分析、制樣簡(jiǎn)單,、重現(xiàn)性好,、準(zhǔn)確度高、非破壞性和對(duì)環(huán)境無(wú)污染等特點(diǎn),，被廣泛應(yīng)用于多領(lǐng)域的樣品分析,。硫化銅礦石作為國(guó)家戰(zhàn)略礦石之一，對(duì)其快速準(zhǔn)確分析在開發(fā)利用方面具有重要意義,。
目前,，礦物、礦石樣品傳統(tǒng)分析周期長(zhǎng),，操作繁瑣,，不適合日常快速分析的要求,。開發(fā)了X射線熒光光譜法快速測(cè)定硫化銅礦中主量元素的分析方法,，實(shí)驗(yàn)采用玻璃熔融法制備硫化銅礦樣品,，在600℃下預(yù)氧化20min，使低價(jià)態(tài)的硫轉(zhuǎn)變?yōu)榱蛩猁},，不僅避免了鉑金坩堝被腐蝕,，而且可以更好的測(cè)定以Cu和S為主的主量元素的含量。該方法為X射線熒光分析法在硫化礦樣品分析領(lǐng)域的拓展提供了一套可借鑒的分析程序,，有一定的實(shí)際應(yīng)用價(jià)值,。隨著分析技術(shù)由整體分析向微區(qū)分析發(fā)展，地學(xué)研究由宏觀表征向微觀信息獲取的發(fā)展,，巖礦的分析研究已經(jīng)由宏觀深入到更微觀的領(lǐng)域,。
波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀
目前實(shí)驗(yàn)室常規(guī)使用的微區(qū)分析技術(shù)包括電子探針,、激光燒蝕等離子體質(zhì)譜和各類電子顯微鏡等,。微區(qū)X射線熒光光譜分析(Micro-XRF)技術(shù)作為一種基于普通X射線熒光的無(wú)損分析技術(shù)，是X射線光譜學(xué)領(lǐng)域的重要分支,，可實(shí)現(xiàn)微米級(jí)微小區(qū)域內(nèi)樣品中多元素定性或定量分析,，成為獲取樣品微區(qū)結(jié)構(gòu)元素空間線掃描、面掃描分布及時(shí)序性信息的有力工具,。使用了臺(tái)式能量色散X射線熒光儀,，對(duì)氧化物組合標(biāo)樣和礦物光片點(diǎn)掃描，對(duì)31個(gè)礦物光片和涂有防曬霜的指紋樣品進(jìn)行面掃描,，5個(gè)金屬薄膜片點(diǎn)掃描,。當(dāng)樣品與聚焦點(diǎn)距離變化在-20μm～20 μm時(shí)，激發(fā)出的Fe,、Cu,、Zn、S的強(qiáng)度值大,。
X射線熒光光譜分析測(cè)定金屬膜層的厚度,，其測(cè)量值與實(shí)際值偏差不大。該儀器還可以獲取清晰的以不同材料為基底的指紋圖像,，在玻璃基底上獲取的指紋紋理更清晰,。微區(qū)X射線熒光光譜無(wú)損分析可得到類似切割板的多元素分布圖，是分析元素分布規(guī)律的一種較快的方法,，能快速測(cè)出金屬膜層的厚度,，高效率提取指紋。
通過(guò)蘭坪盆地鉛鋅銅多金屬成礦區(qū)帶典型礦山地區(qū)1:50000地質(zhì)調(diào)查,，采集云龍縣的山坡,、林地、草地等的土壤樣品400多件,，用波長(zhǎng)色散-能量色散復(fù)合型X射線熒光光譜儀測(cè)量土壤重金屬含量,。得到土壤中重金屬元素的平均值,、中位值等，發(fā)現(xiàn)Zn和Pb元素含量的大值點(diǎn)在同一位置點(diǎn),，在河庫(kù)旁干涸處草地,。Cu、Pb,、Zn,、As、Sb,、Cd元素含量大值的采樣點(diǎn)均在水流附近,，其中Cd元素的大值點(diǎn)位于沘江附近，Cu,、Pb,、Zn、As,、Sb,、Cd等元素可能通過(guò)水流遷移。通過(guò)研究采礦區(qū)不同類型土壤表層中重元素的含量和分布特征,，為調(diào)查礦區(qū)及周邊水文地質(zhì)條件,、礦山開采帶來(lái)的主要環(huán)境地質(zhì)問(wèn)題提供依據(jù)。