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xrf熒光光譜儀是一種快速的,、非破壞式的物質(zhì)測量方法
xrf熒光光譜儀是一種快速的,、非破壞式的物質(zhì)測量方法，應(yīng)用于地質(zhì),、環(huán)境,、石化、金屬,、礦物,、水泥、玻璃等眾多工業(yè)及科研領(lǐng)域,。
當材料暴露在短波長X光檢查,，或伽馬射線，其組成原子可能發(fā)生電離,，如果原子是暴露于輻射與能源大于它的電離勢，足以驅(qū)逐內(nèi)層軌道的電子,，然而這使原子的電子結(jié)構(gòu)不穩(wěn)定,，在外軌道的電子會“回補”進入低軌道，以填補下來的洞,。在“回補”的過程會釋出多余的能源,，光子能量是相等兩個軌道的能量差異的。因此,，物質(zhì)放射出的輻射,，這是原子的能量特性。
xrf熒光光譜儀工作原理：
用X射線照射試樣時,，試樣可以被激發(fā)出各種波長的熒光X射線,，需要把混合的X射線按波長分開，分別測量不同波的X射線的強度,，以進行定性和定量分析,，為此使用的儀器叫X射線熒光光譜儀,。由于X光具有一定波長，同時又有一定能量,，因此,，X射線熒光光譜儀有兩種基本類型：波長色散型和能量色散型。
xrf熒光光譜儀對象主要有各種磁性材料,、鈦鎳記憶合金,、混合稀土分量、貴金屬飾品和合金等,，以及各種形態(tài)樣品的無標半定量分析,，對于均勻的顆粒度較小的粉末或合金，結(jié)果接近于定量分析的準確度,。X熒光分析快速,，某些樣品當天就可以得到分析結(jié)果。適合課題研究和生產(chǎn)監(jiān)控,。熒光分析儀分為波長色散,、能量色散、非色散X熒光,、全反射X熒光,。波長色散X射線熒光光譜采用晶體或人工擬晶體根據(jù)布拉格定律將不同能量的譜線分開，然后進行測量,。波長色散X射線熒光光譜一般采用X射線管作激發(fā)源,，可分為順序式、同時式譜儀,、和順序式與同時式相結(jié)合的譜儀三種類型,。
xrf熒光光譜儀產(chǎn)品優(yōu)點：
1、采樣方式靈活,，對于稀有和貴重金屬的檢測和分析可以節(jié)約取樣帶來的損耗,。
2、測試速率高,，可設(shè)定多通道瞬間多點采集,，并通過計算器實時輸出。
3,、對于一些機械零件可以做到無損檢測,，而不破壞樣品，便于進行無損檢測,。
4,、分析速度較快，比較適用做爐前分析或現(xiàn)場分析，從而達到快速檢測,。
5,、分析結(jié)果的準確性是建立在化學(xué)分析標樣的基礎(chǔ)上。