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兩探針電阻率測試儀/二探針電阻率測試儀/兩探針儀 (測鍺) 型號:LZ-KDY-2
LZ-KDY-2型兩探針電阻率測試儀(以下簡稱兩探針儀)是按照我國標準GB/T1551-1995及美國材料與試驗協(xié)會(ASTM)推薦的材料驗收檢測方法“兩探針法”設計,。它適合于測量橫截面面積均勻的圓型,方型或矩形單晶錠(如硅芯,、檢磷,、硼棒,、區(qū)熔鍺錠等)的電阻率,測樣長度與截面zui大尺寸之比應不小于3:1,。由于兩探針法的測量電流是從長棒兩端進出,,遠離電壓測量探針,因此電流流過金屬與半導體接觸處產生的許多副效應(如珀爾帖效應,、塞貝克效應,、少子注入效應等),對測量的影響較小,,測量結果為橫截面的平均電阻率,,兩探針法的測量精度一般優(yōu)于四探針法。
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