雙電測四探針電阻率測試儀 型號：  341

本儀器本儀器采用四探針雙電測量方法,，適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校,、科研部門,，是檢驗和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料,。液晶顯示,，無需人工計算，并帶有溫度補償功能,，電阻率單位自動選擇,，儀器自動測量并根據(jù)測試結(jié)果自動轉(zhuǎn)換量程，無需人工多次和重復(fù)設(shè)置,。采用高精度AD芯片控制,，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理,、質(zhì)量輕便,，運輸安全、使用方便,；選配：配備軟件可以由電腦操控,，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動生成報表,；本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示,，同時顯示液晶顯示：電阻、電阻率,、方阻,、溫度、單位換算,、溫度系數(shù),、電流、電壓、探針形狀,、探針間距,、厚度 、電導(dǎo)率,，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求,。測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項目要求選購. 
雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。該儀器設(shè)計符合單晶硅物理測試方法標(biāo)準(zhǔn)并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn),。利用電流探針,、電壓探針的變換，進行兩次電測量,，對數(shù)據(jù)進行雙電測分析,，自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機械游移等因素對測量結(jié)果的影響,，它與單電測直線或方形四探針相比,，大大提高度，特別是適用于斜置式四探針對于微區(qū)的測試,。 
提供中文或英文兩種語言操作界面選擇,，滿足國內(nèi)及國外客戶需求 
廣泛用于：覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜，高,、低溫電熱膜;隔熱,、防輻射導(dǎo)電窗膜 導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜,、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽,、合金類箔膜;熔煉、燒結(jié),、濺射,、涂覆、涂布層,，電阻式,、電容式觸屏薄膜;電涂料，其他半導(dǎo)體材料,、薄膜材料方阻測試 
硅晶塊,、晶片電阻率及擴散層、外延層,、ITO導(dǎo)電箔膜,、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻  半導(dǎo)體材料/晶圓、太陽能電池,、電子元器件,，導(dǎo)電薄膜（ITO導(dǎo)電膜玻璃等），金屬膜，導(dǎo)電漆膜,，蒸發(fā)鋁膜,，PCB銅箔膜，EMI涂層等物質(zhì)的薄層電阻與電阻率  導(dǎo)電性油漆,，導(dǎo)電性糊狀物，導(dǎo)電性塑料,，導(dǎo)電性橡膠,，導(dǎo)電性薄膜，金屬薄膜,，抗靜電材料,， EMI 防護材料，導(dǎo)電性纖維,，導(dǎo)電性陶瓷等 
參數(shù)資料 
1.方塊電阻范圍：10-5～2×105Ω/□ 
2.電阻率范圍：10-6～2×106Ω-cm 
3.測試電流范圍：0.1μA ,，1μA，10μA,，100µA,，1mA，10mA,，100 mA 
4.電流精度：±0.1%讀數(shù) 
5.電阻精度：≤0.3% 
6.顯示讀數(shù)：液晶顯示：電阻,、電阻率、方阻,、溫度,、單位換算、溫度系數(shù),、電流,、電壓、探針形狀,、探針間距,、厚度 、電導(dǎo)率 
7.測試方式: 雙電測量 
8.工作電源: 輸入: AC 220V±10% ,50Hz  功 耗：<30W 
9.整機不確定性誤差: ≤4%（標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果） 
10.選購功能: 選購1.pc軟件,；選購2.方形探頭,； 選購3.直線形探頭； 選購4.測試平臺 
11.測試探頭：  探針間距選購：1mm,；2mm,；3mm三種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購：碳化鎢針;白鋼針；鍍金磷銅半球形針