SX1934D型二合一數(shù)字式四探針測試計 
 產(chǎn)品說明 
SX1934D型數(shù)字式四探針測試儀是運(yùn)用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置，它可以測量片狀,、塊狀半導(dǎo)體材料的徑向和軸向電阻率,，測量擴(kuò)散層的薄層電阻（亦稱方塊電阻）。換上特制的四探針測試夾具,，還可以對金屬導(dǎo)體的低,、中值電阻進(jìn)行測量，適用于半導(dǎo)體,、太陽能行業(yè)的篩選,。 
產(chǎn)品特點(diǎn) 
 　　儀器由主機(jī)、測試探頭（可選配測試臺）等部分組成,，測試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示,。主機(jī)主要由數(shù)控恒流源，高分辨率ADC,、嵌入式單片機(jī)系統(tǒng)組成,，自動轉(zhuǎn)換量程。測試探頭高分子材料和高耐磨碳化鎢探針制成,，故定位準(zhǔn)確,、游移率小、壽命長,。儀器具有測量精度高,、靈敏度高、穩(wěn)定性好,、智能化程度高,、測量簡便、結(jié)構(gòu)緊湊,、使用方便等特點(diǎn)(自動調(diào)零),。可鑒別半導(dǎo)體PN類別,。

詳細(xì)參數(shù)